| 标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
| GB/T 7247.5-2017 |
激光产品的安全 第5部分：生产者关于GB 7247.1的检查清单 |
国家质量监督检验检疫.
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2018-07-01 |
作废 |
| GB/T 7247.5-2024 |
激光产品的安全 第5部分：生产者关于GB/T 7247.1的检查清单 |
国家市场监督管理总局.
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2025-03-01 |
现行 |
| GB/T 7247.9-2016 |
激光产品的安全 第9部分：非相干光辐射最大允许照射量 |
国家质量监督检验检疫.
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2017-03-01 |
现行 |
| GB/T 7257-1987 |
氦氖激光器参数试验方法 |
国家标准局
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1987-12-01 |
作废 |
| GB/T 7257-2013 |
氦氖激光器参数测量方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2014-05-15 |
现行 |
| GB 7270-1987 |
光电倍增管测试方法 |
国家标准局
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1987-01-02 |
作废 |
| GB/T 7271-1987 |
光电管测试方法 |
国家标准局
|
1987-01-02 |
作废 |
| JB/T 10785-2007 |
大功率横流连续波二氧化碳激光器 |
国家发展和改革委员会
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2008-02-01 |
现行 |
| JB/T 10875-2008 |
发光二极管光学性能测试方法 |
国家发展和改革委员会
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2008-11-01 |
作废 |
| JB/T 9489-1999 |
氩离子激光器 主要参数测试方法 |
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2001-01-01 |
废止 |
| JB/T 9490-1999 |
二氧化碳激光器 主要参数测试方法 |
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2001-01-01 |
作废 |
| JB/T 9491-1999 |
氦氖激光器 主要参数 测试方法 |
国家机械工业局
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2000-01-01 |
废止 |
| JB/T 9492-1999 |
钇铝石榴石激光器 参数系列 |
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2001-01-01 |
作废 |
| SB/T 10570-2010 |
片猪肉激光灼刻标识码、印应用规范 |
商务部
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2011-06-01 |
作废 |
| SJ/T 11165-1998 |
用于光纤系统（或分系统）带尾纤或不带尾纤的PIN-FET模块空白详细规范 |
电子工业部
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1998-05-01 |
废止 |
| SJ/T 11393-2009 |
半导体光电子器件 功率发光二极管空白详细规范 |
工业和信息化部
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2010-01-01 |
现行 |
| SJ/T 11395-2009 |
半导体照明术语 |
工业和信息化部
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2010-01-01 |
现行 |
| SJ/T 11398-2009 |
功率半导体发光二极管芯片技术规范 |
工业和信息化部
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2010-01-01 |
现行 |
| SJ/T 11399-2009 |
半导体发光二极管芯片测试方法 |
工业和信息化部
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2010-01-01 |
现行 |
| SJ 20868-2003 |
电荷藕合成像器件测试方法 |
信息产业部
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2004-03-01 |
现行 |
| SJ 20869-2003 |
铌酸锂集成光学波导调制器测试方法 |
信息产业部
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2004-03-01 |
现行 |
| SJ 20955-2006 |
故障探测指示器通用规范 |
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2006-12-30 |
现行 |
| SJ 20986-2008 |
体波声光器件通用规范 |
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现行 |
| SJ 2354.1-1983 |
ＰＩＮ、雪崩光电二极管光电参数测试方法 总则 |
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1984-07-01 |
作废 |
| SJ 2354.10-1983 |
ＰＩＮ、雪崩光电二极管列阵串光因子的测试方法 |
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1984-07-01 |
作废 |
| SJ 2354.11-1983 |
ＰＩＮ、雪崩光电二极管列阵音区宽度的测试方法 |
|
1984-07-01 |
作废 |
| SJ 2354.12-1983 |
ＰＩＮ、雪崩光电二极管反向击穿电压温度系数的测试方法 |
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1984-07-01 |
作废 |
| SJ 2354.13-1983 |
ＰＩＮ、雪崩光电二极管倍增因子的测试方法 |
|
1984-07-01 |
作废 |
| SJ 2354.14-1983 |
ＰＩＮ、雪崩光电二极管过剩噪声指数的测试方法 |
|
1984-07-01 |
作废 |
| SJ 2354.2-1983 |
ＰＩＮ、雪崩光电二极管反向击穿电压的测试方法 |
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1984-07-01 |
作废 |
| SJ 2354.3-1983 |
ＰＩＮ、雪崩光电二极管暗电流的测试方法 |
|
1984-07-01 |
作废 |
| SJ 2354.4-1983 |
ＰＩＮ、雪崩光电二极管正向压降的测试方法 |
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1984-07-01 |
作废 |
| SJ 2354.5-1983 |
ＰＩＮ、雪崩光电二极管电容的测试方法 |
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1984-07-01 |
作废 |
| SJ 2354.6-1983 |
ＰＩＮ、雪崩光电二极管响应度的测试方法 |
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1984-07-01 |
作废 |
| SJ 2354.7-1983 |
ＰＩＮ、雪崩光电二极管光谱响应曲线和光谱响应范围的测试方法 |
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1984-07-01 |
作废 |
| SJ 2354.8-1983 |
ＰＩＮ、雪崩光电二极管脉冲上升、下降时间的测试方法 |
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1984-07-01 |
作废 |
| SJ 2354.9-1983 |
ＰＩＮ、雪崩光电二极管噪声等效功率的测试方法 |
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1984-07-01 |
作废 |
| SJ 2355.1-1983 |
半导体发光器件测试方法 总则 |
|
1984-07-01 |
作废 |
| SJ 2355.2-1983 |
半导体发光器件测试方法 正向压降的测试方法 |
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1984-05-01 |
作废 |
| SJ 2355.3-1983 |
半导体发光器件测试方法 反向电流的测试方法 |
|
1984-07-01 |
作废 |