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半导体发光二极管芯片测试方法

国家标准
标准编号:SJ/T 11399-2009 标准状态:现行
标准价格:30.0 客户评分:星星星星1
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标准简介
主要规定了电学参数、热学参数、色度学参数以及静电放电敏感性测试等主要性能参数的测试方法。
英文名称:  Measurement methods for chips of light emitting diodes
什么是中标分类? 中标分类:  电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L45微波、毫米波二、三极管
什么是ICS分类?  ICS分类:  电子学>>31.260光电子学、激光设备
发布部门:  工业和信息化部
发布日期:  2009-11-17
实施日期:  2010-01-01
什么是归口单位? 归口单位:  工业和信息化部电子工业标准化研究所
主管部门:  工业和信息化部电子工业标准化研究所
起草单位:  中国光学光电子行业协会光电器件分会、厦门华联电子有限公司、杭州浙大三色仪器有限公司、深圳淼浩高新科技有限公司
起草人:  鲍超、胡爱华、牟同升、李明远、彭万华
页数:  11页
出版社:  电子工业出版社
出版日期:  2010-01-01
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