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| 英文名称： |
Measurement methods for chips of light emitting diodes |
 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L45微波、毫米波二、三极管 |
| ICS分类： |
电子学>>31.260光电子学、激光设备 |
| 发布部门： |
工业和信息化部 |
| 发布日期： |
2009-11-17 |
| 实施日期： |
2010-01-01
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| 归口单位： |
工业和信息化部电子工业标准化研究所 |
| 主管部门： |
工业和信息化部电子工业标准化研究所 |
| 起草单位： |
中国光学光电子行业协会光电器件分会、厦门华联电子有限公司、杭州浙大三色仪器有限公司、深圳淼浩高新科技有限公司 |
| 起草人： |
鲍超、胡爱华、牟同升、李明远、彭万华 |
| 页数： |
11页 |
| 出版社： |
电子工业出版社 |
| 出版日期： |
2010-01-01 |
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