SJ 20986-2008 体波声光器件通用规范电子行业标准(SJ)-工标网

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光电子器件组合相关标准	第1页第2页
GB/T 43690-2024 成像衍射光学元件衍射效率的测量方法
GB/T 43736-2024 精密光频测量中光学频率梳性能参数测试方法
GB/T 44078-2024 光电系统中光学中心间距的测定低相干干涉测量法
GB/T 7962.21-2019 无色光学玻璃测试方法第21部分：耐碱稳定性
GB/T 7962.22-2019 无色光学玻璃测试方法第22部分：耐磷酸稳定性
GB/T 7962.23-2019 无色光学玻璃测试方法第23部分：耐气候稳定性
SJ/T 11395-2009 半导体照明术语
SJ 20786/1-2002 半导体光电组件CBGS2301微型双向光电定位器详细规范
SJ/Z 9014.2-1987 半导体器件分立器件和集成电路第5部分:光电子器件
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光电子学、激光设备相关标准	第1页第2页第3页
SJ 2354.10-1983 ＰＩＮ、雪崩光电二极管列阵串光因子的测试方法
SJ 2354.11-1983 ＰＩＮ、雪崩光电二极管列阵音区宽度的测试方法
SJ 2354.12-1983 ＰＩＮ、雪崩光电二极管反向击穿电压温度系数的测试方法
SJ 2354.13-1983 ＰＩＮ、雪崩光电二极管倍增因子的测试方法
SJ 2354.14-1983 ＰＩＮ、雪崩光电二极管过剩噪声指数的测试方法
SJ 2354.2-1983 ＰＩＮ、雪崩光电二极管反向击穿电压的测试方法
SJ 2354.3-1983 ＰＩＮ、雪崩光电二极管暗电流的测试方法
SJ 2354.4-1983 ＰＩＮ、雪崩光电二极管正向压降的测试方法
SJ 2354.5-1983 ＰＩＮ、雪崩光电二极管电容的测试方法
SJ 2354.6-1983 ＰＩＮ、雪崩光电二极管响应度的测试方法
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