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| 英文名称： |
Probe test method for light emitting diode chips |
 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L45微波、毫米波二、三极管 |
| ICS分类： |
电子学>>31.260光电子学、激光设备 |
| 发布部门： |
国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： |
2018-09-17 |
| 实施日期： |
2019-01-01
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| 归口单位： |
中华人民共和国工业和信息化部(电子) |
| 主管部门： |
中华人民共和国工业和信息化部(电子) |
| 起草单位： |
三安光电股份有限公司、厦门市三安光电科技有限公司、中国电子技术标准化研究院、广州赛西标准检测研究院有限公司 |
| 起草人： |
蔡伟智、梁奋、刘秀娟、李国煌、吕艳、金威、邵晓娟、周钢、时军朋 |
| 页数： |
12页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 出版日期： |
2018-09-01 |
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