| 标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
| GB/T 15136-1994 |
半导体集成电路石英钟表电路测试方法的基本原理 |
国家技术监督局
|
1995-02-01 |
废止 |
| GB 3430-1989 |
半导体集成电路型号命名方法 |
机械电子工业部
|
1990-04-01 |
废止 |
| GB/T 14129-1993 |
半导体集成电路TTL电路系列和品种 PAL系列的品种 |
国家技术监督局
|
1993-08-01 |
废止 |
| DB31/ 792-2014 |
硅单晶及其硅片单位产品能源消耗限额 |
上海市质量技术监督局
|
2014-08-01 |
作废 |
| GA/T 1171-2014 |
芯片相似性比对检验方法 |
公安部
|
2014-07-09 |
现行 |
| GB/T 11497.1-1989 |
半导体集成电路CMOS电路系列和品种 54/74HC系列的品种 |
信息产业部（电子）
|
1990-04-01 |
作废 |
| GB/T 11497.2-1989 |
半导体集成电路CMOS电路系列和品种 54/74HCT系列的品种 |
信息产业部（电子）
|
1990-04-01 |
作废 |
| GB 11498-1989 |
膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序)(可供认证用) |
机械电子工业部
|
1990-04-01 |
作废 |
| GB/T 11498-2018 |
半导体器件 集成电路 第21部分：膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序)半导体器件 集成电路 第21部分：膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序) |
国家市场监督管理总局.
|
2019-07-01 |
现行 |
| GB/T 12084-1989 |
半导体集成电路TTL电路系列和品种 54/74F系列的品种 |
国家技术监督局
|
1990-07-01 |
作废 |
| GB/T 12750-1991 |
半导体集成电路分规范 (不包括混合电路) (可供认证用) |
国家技术监督局
|
1991-01-01 |
作废 |
| GB/T 12750-2006 |
半导体器件 集成电路 第11部分：半导体集成电路分规范(不包括混合电路) |
国家质量监督检验检疫.
|
2007-02-01 |
现行 |
| GB/T 12842-1991 |
膜集成电路和混和膜集成电路术语 |
国家技术监督局
|
1991-01-02 |
现行 |
| GB/T 12843-1991 |
半导体集成电路 微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理 |
国家技术监督局
|
1991-01-02 |
作废 |
| GB/T 12844-1991 |
半导体集成电路非线性电路系列和品种采样/保持放大器的品种 |
国家技术监督局
|
1991-01-02 |
作废 |
| GB/T 12845-1991 |
半导体集成电路非线性电路系列和品种 电压频率和频率/电压转换器的品种 |
国家技术监督局
|
1991-01-02 |
作废 |
| GB/T 13062-1991 |
膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范 (采用鉴定批准程序) |
国家技术监督局
|
1992-03-01 |
作废 |
| GB/T 13062-2018 |
半导体器件 集成电路 第21-1部分：膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范(采用鉴定批准程序) |
国家市场监督管理总局.
|
2019-07-01 |
现行 |
| GB/T 13064-1991 |
半导体集成电路系列和品种复印机用系列的品种 |
国家技术监督局
|
1992-03-01 |
作废 |
| GB/T 13067-1991 |
半导体集成电路系列和品种石英电子钟表用系列的品种 |
国家技术监督局
|
1992-03-01 |
作废 |
| GB/T 13068-1991 |
半导体集成电路系列和品种 磁敏传感器用系列的品种 |
国家技术监督局
|
1992-03-01 |
作废 |
| GB/T 13069-1991 |
半导体集成电路系列和品种 数控机床用系列的品种 |
国家技术监督局
|
1992-03-01 |
作废 |
| GB/T 14024-1992 |
内燃机电站无线电干扰特性的测量方法及允许值 传导干扰 |
国家技术监督局
|
1993-08-01 |
现行 |
| GB/T 14025-1992 |
半导体集成电路门阵列电路系列和品种ECL系列的品种 |
国家技术监督局
|
1993-08-01 |
作废 |
| GB/T 14026-1992 |
半导体集成电路微型计算机电路系列和品种80C86系列的品种 |
国家技术监督局
|
1993-08-01 |
作废 |
| GB/T 14027.1-1992 |
半导体集成电路通信电路系列和品种 有源滤波器系列品种 |
信息产业部（电子）
|
1993-08-01 |
作废 |
| GB/T 14027.2-1992 |
半导体集成电路通信电路系列和品种 脉码调制编译码器系列品种 |
信息产业部（电子）
|
1993-08-01 |
作废 |
| GB/T 14027.3-1992 |
半导体集成电路通信电路系列和品种 模拟开关阵列系列品种 |
信息产业部（电子）
|
1993-08-01 |
作废 |
| GB/T 14027.4-1992 |
半导体集成电路通信电路系列和品种 双音多频电路系列品种 |
信息产业部（电子）
|
1993-08-01 |
作废 |
| GB/T 14027.5-1992 |
半导体集成电路通信电路系列和品种 电话电路系列品种 |
信息产业部（电子）
|
1993-08-01 |
作废 |
| GB/T 14027.6-1992 |
半导体集成电路通信电路系列和品种 频率合成器系列品种 |
信息产业部（电子）
|
1993-08-01 |
作废 |
| GB/T 14027.7-1992 |
半导体集成电路通信电路系列和品种 数字交换系统接口电路系列品种 |
信息产业部（电子）
|
1993-08-01 |
作废 |
| GB/T 14028-1992 |
半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 |
国家技术监督局
|
1993-08-01 |
作废 |
| GB/T 14028-2018 |
半导体集成电路 模拟开关测试方法 |
国家质量监督检验检疫.
|
2018-08-01 |
现行 |
| GB/T 14029-1992 |
半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理 |
国家技术监督局
|
1993-08-01 |
现行 |
| GB/T 14030-1992 |
半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 |
国家技术监督局
|
1993-08-01 |
现行 |
| GB/T 14031-1992 |
半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理 |
国家技术监督局
|
1993-08-01 |
现行 |
| GB/T 14032-1992 |
半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理 |
国家技术监督局
|
1993-08-01 |
现行 |
| GB/T 14112-1993 |
半导体集成电路 塑料双列封装冲制型引线框架规范 |
国家技术监督局
|
1993-08-01 |
作废 |
| GB/T 14112-2015 |
半导体集成电路 塑料双列封装冲制型引线框架规范 |
国家质量监督检验检疫.
|
2016-01-01 |
现行 |