|
| 英文名称： |
Semiconductor devices—Integrated Circuits—Part 11:Section 1:Internal visual examination for semiconductor integrated circuits (excluding hybrid circuits) |
 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>微电路>>L56半导体集成电路 |
| ICS分类： |
电子学>>31.200集成电路、微电子学 |
| 采标情况： |
IEC 60748-11-1:1992,IDT |
| 发布部门： |
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 |
| 发布日期： |
2003-11-24 |
| 实施日期： |
2004-08-01
|
| 首发日期： |
2003-11-24 |
| 复审日期： |
2023-12-28 |
| 提出单位： |
中华人民共和国信息产业部 |
| 归口单位： |
全国半导体器件标准化技术委员会 |
| 主管部门： |
信息产业部（电子） |
| 起草单位： |
信息产业部第四研究所 |
| 起草人： |
魏华、王静 |
| 页数： |
16开， 页数：22， 字数：45千字 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 书号： |
155066.1-20646 |
| 出版日期： |
2004-08-01 |
| 标准前页： |
浏览标准前文 || 下载标准前页 |
|