| 标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
| GB/T 17574.20-2006 |
半导体器件 集成电路 第2-20部分：数字集成电路 低压集成电路族规范 |
国家质量监督检验检疫.
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2007-05-01 |
现行 |
| GB/T 17574.9-2006 |
半导体器件 集成电路 第2-9部分：数字集成电路紫外光擦除电可编程MOS只读存储器空白详细规范 |
国家质量监督检验检疫.
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2007-05-01 |
现行 |
| GB/T 17864-1999 |
关键尺寸（CD）计量方法 |
国家质量技术监督局
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2000-06-01 |
现行 |
| GB/T 17865-1999 |
焦深与最佳聚焦的测量规范 |
国家质量技术监督局
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2000-06-01 |
现行 |
| GB/T 17866-1999 |
掩模缺陷检查系统灵敏度分析所用的特制缺陷掩模和评估测量方法准则 |
国家质量技术监督局
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2000-06-01 |
现行 |
| GB/T 17940-2000 |
半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 |
国家质量监督检验检疫.
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2000-08-01 |
现行 |
| GB/T 18500.1-2001 |
半导体器件 集成电路 第4部分：接口集成电路 第一篇：线性数字/模拟转换器(DAC)空白详细规范 |
国家质量监督检验检疫.
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2002-06-01 |
现行 |
| GB/T 18500.2-2001 |
半导体器件 集成电路 第4部分：接口集成电路 第二篇：线性模拟/数字转换器（ADC）空白详细规范 |
国家质量监督检验检疫.
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2002-06-01 |
现行 |
| GB/T 19403.1-2003 |
半导体器件 集成电路 第11部分：第1篇：半导体集成电路 内部目检 （不包括混合电路） |
国家质量监督检验检疫.
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2004-08-01 |
现行 |
| GB/T 20296-2006 |
集成电路记忆法与符号 |
国家质量监督检验检疫.
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2007-01-01 |
作废 |
| GB/T 20515-2006 |
半导体器件 集成电路 第5部分：半定制集成电路 |
国家质量监督检验检疫.
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2007-02-01 |
现行 |
| GB/T 20870.10-2023 |
半导体器件 第16-10部分：单片微波集成电路技术可接收程序 |
国家市场监督管理总局.
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2024-01-01 |
现行 |
| GB/T 20870.2-2023 |
半导体器件 第16-2部分：微波集成电路 预分频器 |
国家市场监督管理总局.
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2023-09-07 |
现行 |
| GB/T 20870.4-2024 |
半导体器件 第16-4部分：微波集成电路 开关 |
国家市场监督管理总局.
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2024-10-26 |
现行 |
| GB/T 20870.5-2023 |
半导体器件 第16-5部分：微波集成电路 振荡器 |
国家市场监督管理总局.
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2024-01-01 |
现行 |
| GB/T 33657-2017 |
纳米技术 晶圆级纳米尺度相变存储单元电学操作参数测试规范 |
国家质量监督检验检疫.
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2017-12-01 |
现行 |
| GB 3430-1989 |
半导体集成电路型号命名方法 |
机械电子工业部
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1990-04-01 |
废止 |
| GB 3431.1-1982 |
半导体集成电路文字符号 电参数文字符号 |
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1983-10-01 |
作废 |
| GB 3431.2-1986 |
半导体集成电路文字符号 引出端功能符号 |
国家标准局
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1987-04-01 |
现行 |
| GB/T 3432.1-1989 |
半导体集成电路TTL电路系列和品种 54/74系列的品种 |
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1990-04-01 |
作废 |
| GB/T 3432.2-1989 |
半导体集成电路TTL电路系列和品种 54/74H系列的品种 |
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1990-04-01 |
作废 |
| GB/T 3432.3-1989 |
半导体集成电路TTL电路系列和品种 54/74S系列的品种 |
|
1990-04-01 |
作废 |
| GB/T 3432.4-1989 |
半导体集成电路TTL电路系列和品种 54/74LS系列的品种 |
信息产业部（电子）
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1990-04-01 |
作废 |
| GB 3433-1982 |
半导体集成电路HTL电路系列和品种 |
国家标准局
|
1983-10-01 |
作废 |
| GB/T 3434-1986 |
半导体集成电路ECL电路系列和品种 |
国家标准局
|
1986-01-02 |
作废 |
| GB/T 3435-1987 |
半导体集成CMOS电路系列和品种 4000系列的品种 |
国家标准局
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1987-08-01 |
作废 |
| GB 3436-1986 |
半导体集成电路运算放大器系列和品种 |
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1987-08-01 |
作废 |
| GB/T 3436-1996 |
半导体集成电路运算放大器系列和品种 |
国家技术监督局
|
1997-01-01 |
现行 |
| GB 3437-1982 |
半导体集成电路MOS存储器系列和品种 |
国家标准局
|
1983-10-01 |
作废 |
| GB 3438-1982 |
半导体集成电路双极型存储器系列和品种 |
国家标准局
|
1983-10-01 |
作废 |
| GB 3439-1982 |
半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 |
|
1983-10-01 |
作废 |
| GB 3440-1982 |
半导体集成电路HTL电路测试方法的基本原理 |
|
1983-10-01 |
作废 |
| GB 3441-1982 |
半导体集成电路ECL电路测试方法的基本原理 |
|
1983-10-01 |
作废 |
| GB 3442-1986 |
半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理 |
|
1987-07-01 |
作废 |
| GB 3443-1982 |
半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 |
|
1983-10-01 |
作废 |
| GB 3444-1982 |
半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 |
|
1983-10-01 |
作废 |
| GB/T 35003-2018 |
非易失性存储器耐久和数据保持试验方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2018-08-01 |
现行 |
| GB/T 35004-2018 |
数字集成电路 输入/输出电气接口模型规范 |
国家质量监督检验检疫.
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2018-08-01 |
现行 |
| GB/T 35006-2018 |
半导体集成电路 电平转换器测试方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2018-08-01 |
现行 |
| GB/T 35007-2018 |
半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2018-08-01 |
现行 |