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| 英文名称： |
Semiconductor devices—Mechanical and climate test methods—Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing—Charged device model (CDM)—device level |
| 标准状态： |
即将实施 |
 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L40半导体分立器件综合 |
| ICS分类： |
电子学>>半导体器件>>31.080.01半导体器件综合 |
| 采标情况： |
IEC 60749-28:2022 IDT |
| 发布部门： |
国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： |
2026-02-27 |
| 实施日期： |
2026-09-01
即将实施 距离实施日期还有130天 |
| 提出单位： |
中华人民共和国工业和信息化部 |
| 归口单位： |
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78) |
| 起草单位： |
河北北芯半导体科技有限公司、合肥科微芯测科技有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、中国电子科技集团公司第十三研究所、河北科技大学等 |
| 起草人： |
张涛、赵宇洋、许中广、迟雷、吴小帅、王宇涛、桂明洋、王冲、郑雪峰、王超、孙宏军、杨洁、贾林、陈亚洲、胡小锋、陈龙坡、焦龙飞、安伟、周晓黎、张崇、彭浩、席善斌、胡松祥、曹耀龙、陈昱宇、张宇航、陈浩祥、邵伟恒、孙锴、李博、李仲茂、常江、杨寿国、单书珊等 |
| 页数： |
48页【彩图】 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |