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现场可编程门阵列(FPGA)芯片动态老化试验方法

国家标准
标准编号:T/CIE 151-2022 标准状态:现行
标准价格:26.0 客户评分:星星星星1
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标准简介
本文件规定了现场可编程门阵列(FPGA)芯片动态老化要求及试验方法。
本文件适用于FPGA芯片的提供者、使用者和第三方开展老化试验及评价。
英文名称:  Dynamic aging test method of field programmable gate array(FPGA)
什么是中标分类? 中标分类:  电子元器件与信息技术>>微电路>>L56半导体集成电路
什么是ICS分类?  ICS分类:  电子学>>31.020电子元件综合
发布部门:  中国电子学会
发布日期:  2022-12-31
实施日期:  2023-01-31
提出单位:  中国电子学会可靠性分会
什么是归口单位? 归口单位:  中国电子学会可靠性分会
起草单位:  工业和信息化部电子第五研究所、深圳市紫光同创电子有限公司、成都华微电子科技股份有限公司、广东高云半导体科技股份有限公司、上海安路信息科技股份有限公司、深圳市国微电子有限公司、中国航天科技集团公司第九研究院第772研究所、上海复旦微电子集团股份有限公司
起草人:  余永涛、罗军、王小强、廖步彪、刘建明、周奇、袁智皓、朱晴、张帆、周军
页数:  16页
出版社:  中国标准出版社
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