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半导体器件可靠性强化试验方法

国家标准
标准编号:T/CIE 144-2022 标准状态:现行
标准价格:31.0 客户评分:星星星星1
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标准简介
本文件规定了半导体器件可靠性强化试验方法,并规定了半导体器件强化试验的一般步骤、相关要求、方法及参数监测等。
本文件适用于半导体分立器件、集成电路、微波器件的可靠性强化试验指导。
英文名称:  Reliability enhancement test of semiconductor devices
什么是中标分类? 中标分类:  电子元器件与信息技术>>电子元器件与信息技术综合>>L05可靠性和可维护性
什么是ICS分类?  ICS分类:  电子学>>31.020电子元件综合
发布部门:  中国电子学会
发布日期:  2022-12-31
实施日期:  2023-01-31
提出单位:  中国电子学会可靠性分会
什么是归口单位? 归口单位:  中国电子学会可靠性分会
起草单位:  工业和信息化部电子第五研究所、航空工业第一飞机设计研究院
起草人:  杨少华、颜佳辉、薛海红、牛皓、刘昌、王铁羊、吕宏峰、来萍、许少辉、赖灿雄、陈希宇、廖文渊、柳月波
页数:  20页
出版社:  中国标准出版社
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