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英文名称: |
Integrated circuits—Test methods for column grid array |
中标分类: |
电子元器件与信息技术>>微电路>>L55微电路综合 |
ICS分类: |
电子学>>31.200集成电路、微电子学 |
发布部门: |
国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会 |
发布日期: |
2018-06-07 |
实施日期: |
2019-01-01
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提出单位: |
中华人民共和国工业和信息化部 |
归口单位: |
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78) |
主管部门: |
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78) |
起草单位: |
中国电子科技集团公司第五十八研究所、中国电子技术标准化研究院 |
起草人: |
吕栋、丁荣峥、陈波、陆坚、章慧彬、李锟、尹航 |
页数: |
24页 |
出版社: |
中国标准出版社 |
出版日期: |
2018-06-01 |