| 标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
| GB/T 6346.1101-2015 |
电子设备用固定电容器 第11-1部分：空白详细规范 金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流固定电容器 评定水平EZ |
国家质量监督检验检疫.
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2016-03-01 |
现行 |
| GB/T 6346.14-2015 |
电子设备用固定电容器 第14部分：分规范 抑制电源电磁干扰用固定电容器 |
国家质量监督检验检疫.
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2016-03-01 |
作废 |
| GB/T 6346.14-2023 |
电子设备用固定电容器 第14部分：分规范 抑制电源电磁干扰用固定电容器 |
国家市场监督管理总局.
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2023-10-01 |
现行 |
| GB/T 6346.1401-2015 |
电子设备用固定电容器 第14-1部分：空白详细规范 抑制电源电磁干扰用固定电容器 评定水平D |
国家质量监督检验检疫.
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2016-03-01 |
现行 |
| GB/T 6346.24-2021 |
电子设备用固定电容器 第24部分：分规范 表面安装导电聚合物固体电解质钽固定电容器 |
国家市场监督管理总局.
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2022-05-01 |
现行 |
| GB/T 6346.25-2018 |
电子设备用固定电容器 第25部分：分规范 表面安装导电高分子固体电解质铝固定电容器 |
国家质量监督检验检疫.
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2018-07-01 |
现行 |
| GB/T 6346.2501-2018 |
电子设备用固定电容器 第25-1部分：空白详细规范 表面安装导电高分子固体电解质铝固定电容器 评定水平EZ |
国家质量监督检验检疫.
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2018-07-01 |
现行 |
| GB/T 6346.26-2018 |
电子设备用固定电容器 第26部分：分规范 导电高分子固体电解质铝固定电容器 |
国家市场监督管理总局.
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2019-01-01 |
现行 |
| GB/T 6346.2601-2018 |
电子设备用固定电容器 第26-1部分：空白详细规范 导电高分子固体电解质铝固定电容器 评定水平EZ |
国家市场监督管理总局.
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2019-01-01 |
现行 |
| GB/T 6346.3-2015 |
电子设备用固定电容器 第3部分：分规范 表面安装MnO2固体电解质钽固定电容器 |
国家质量监督检验检疫.
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2016-03-01 |
现行 |
| GB/T 6346.301-2015 |
电子设备用固定电容器 第3-1部分：空白详细规范 表面安装MnO2固体电解质钽固定电容器 评定水平EZ |
国家质量监督检验检疫.
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2016-03-01 |
现行 |
| GB 6347-1986 |
电子设备用固定电容器 第11部分:空白详细规范:金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流固定电容器 |
国家标准局
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1987-03-01 |
作废 |
| GB/T 6351-1998 |
半导体器件 分立器件 第2部分:整流二极管 第一篇 100A以下环境或管壳额定整流二极管(包括雪崩整流二极管)空白详细规范 |
国家质量技术监督局
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1999-06-01 |
现行 |
| GB/T 6352-1998 |
半导体器件 分立器件 第6部分:闸流晶体管 第一篇 100A以下环境或管壳额定反向阻断三极闸流晶体管空白详细规范 |
国家质量技术监督局
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1999-06-01 |
现行 |
| GB/T 6360-1995 |
激光功率能量测试仪器规范 |
国家技术监督局
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1996-01-01 |
现行 |
| GB/T 6426-1999 |
铁电陶瓷材料电滞回线的准静态测试方法 |
国家质量技术监督局
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1999-12-01 |
现行 |
| GB/T 6427-1999 |
压电陶瓷振子频率温度稳性的测量方法 |
国家质量技术监督局
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1999-12-01 |
现行 |
| GB/T 6428-1995 |
氢闸流管测试方法 |
国家技术监督局
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1996-08-01 |
作废 |
| GB 6429-1986 |
石英谐振器型号命名方法 |
国家标准局
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1987-05-01 |
现行 |
| GB 6430-1986 |
晶体盒型号命名方法 |
国家标准局
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1987-05-01 |
现行 |
| GB/T 6431-1986 |
通信设备条形机架基本尺寸 |
国家标准局
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1987-05-01 |
作废 |
| GB/T 6570-1986 |
微波二极管测试方法 |
国家标准局
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1987-07-01 |
作废 |
| GB/T 6571-1995 |
半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管 |
国家技术监督局
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1996-04-01 |
现行 |
| GB/T 6588-2000 |
半导体器件 分立器件 第3部分：信号（包括开关）和调整二极管 第1篇 信号二极管、开关二极管和可控雪崩二极管空白详细规范 |
国家质量技术监督局
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2001-10-01 |
现行 |
| GB/T 6589-1986 |
电压调整和电压基准二极管(包括温度补偿精密基准二极管)空白详细规范(可供认证用) |
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1987-07-01 |
作废 |
| GB/T 6589-2002 |
半导体器件 分立器件 第3-2部分: 信号(包括开关)和调整二极管电压调整二极管和电压基准二极管(不包括温度补偿精密基准二极管)空白详细规范 |
国家质量监督检验检疫.
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2003-05-01 |
现行 |
| GB/T 6590-1998 |
半导体器件 分立器件 第6部分:闸流晶体管 第二篇 100A以下环境或管壳额定的双向三极闸流晶体管空白详细规范 |
国家质量技术监督局
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1999-06-01 |
现行 |
| GB/T 6625-1986 |
掺氮吸气剂含氮量测试方法 |
国家标准局
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1987-07-01 |
作废 |
| GB 6626.1-1986 |
释汞吸气剂性能测试方法 释汞吸气剂释汞特性的测试方法 |
国家标准局
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1987-07-01 |
作废 |
| GB 6626.2-1986 |
释汞吸气剂性能测试方法 释汞吸气剂含汞量的测试方法 |
国家标准局
|
1987-07-01 |
作废 |
| GB 6626.3-1986 |
释汞吸气剂性能测试方法 释汞吸气剂放气量的测试方法 |
国家标准局
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1987-07-01 |
作废 |
| GB 6626.4-1986 |
释汞吸气剂性能测试方法 释汞吸气剂压粉牢固度的检测方法 |
国家标准局
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1987-07-01 |
作废 |
| GB/T 6628-1996 |
人造石英晶体制材 |
国家技术监督局
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1997-05-01 |
作废 |
| GB/T 6648-1986 |
半导体集成电路静态读/写存储器空白详细规范(可供认证用) |
国家标准局
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1987-08-01 |
现行 |
| GB/T 6663-1986 |
直热式负温度系数热敏电阻器总规范(可供认证用) |
国家标准局
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1987-08-01 |
作废 |
| GB/T 6663.1-2007 |
直热式负温度系数热敏电阻器 第1部分:总规范 |
国家质量监督检验检疫.
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2007-09-01 |
现行 |
| GB/T 6664-1986 |
直热式负温度系数热敏电阻器空白详细规范 评定水平E(可供认证用) |
国家标准局
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1987-08-01 |
作废 |
| GB/T 6798-1996 |
半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理 |
国家技术监督局
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1997-01-01 |
现行 |
| GB 6800-1986 |
半导体集成音响电路音频功率放大器测试方法的基本原理 |
国家标准局
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1987-07-01 |
作废 |
| GB/T 6812-1986 |
半导体集成非线性电路系列和品种 模拟乘-除法器的品种 |
信息产业部（电子）
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1987-08-01 |
作废 |