| 标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
| GB 5594.1-1985 |
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法 |
国家标准局
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1986-12-01 |
现行 |
| GB 5594.2-1985 |
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量 泊松比测试方法 |
国家标准局
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1986-12-01 |
现行 |
| GB 5594.3-1985 |
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 平均线膨胀系数测试方法 |
国家标准局
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1986-12-01 |
作废 |
| GB/T 5594.3-2015 |
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第3部分：平均线膨胀系数测试方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2016-01-01 |
现行 |
| GB 5594.4-1985 |
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 介质损耗角正切值的测试方法 |
国家标准局
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1986-12-01 |
作废 |
| GB/T 5594.4-2015 |
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分：介电常数和介质损耗角正切值的测试方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2016-01-01 |
现行 |
| GB 5594.5-1985 |
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法 |
信息产业部（电子）
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1986-01-02 |
现行 |
| GB 5594.6-1985 |
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 化学稳定性测试方法 |
国家标准局
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1986-12-01 |
作废 |
| GB/T 5594.6-2015 |
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第6部分：化学稳定性测试方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2016-01-01 |
现行 |
| GB 5594.7-1985 |
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 透液性测定方法 |
国家标准局
|
1986-12-01 |
作废 |
| GB/T 5594.7-2015 |
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第7部分：透液性测定方法 |
国家质量监督检验检疫.
|
2016-01-01 |
现行 |
| GB 5594.8-1985 |
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定 |
国家标准局
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1986-01-02 |
作废 |
| GB/T 5594.8-2015 |
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分：显微结构的测定方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2016-01-01 |
现行 |
| GB/T 5596-1996 |
电容器用陶瓷介质材料 |
国家技术监督局
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1997-05-01 |
现行 |
| GB/T 5597-1999 |
固体电介质微波复介电常数的测试方法 |
国家质量技术监督局
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1999-01-02 |
现行 |
| GB/T 5598-2015 |
氧化铍瓷导热系数测定方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2016-01-01 |
现行 |
| GB/T 5729-1994 |
电子设备用固定电阻器 第一部分:总规范 |
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1995-08-01 |
作废 |
| GB/T 5729-2003 |
电子设备用固定电阻器 第1部分：总规范 |
国家质量监督检验检疫.
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2004-08-01 |
现行 |
| GB 5730-1985 |
电子设备用固定电阻器 第二部分:分规范: 低功率非线绕固定电阻器(可供认证用) |
国家标准局
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1986-09-01 |
现行 |
| GB 5731-1985 |
电子设备用固定电阻器 第二部分:空白详细规范:低功率非线绕固定电阻器 评定水平E(可供认证用) |
国家标准局
|
1986-09-01 |
现行 |
| GB 5732-1985 |
电子设备用固定电阻器 第四部分:分规范:功率型固定电阻器(可供认证用) |
国家标准局
|
1986-09-01 |
现行 |
| GB 5733-1985 |
电子设备用固定电阻器 第四部分:空白详细规范:功率型固定电阻器 评定水平E(可供认证用) |
国家标准局
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1986-09-01 |
现行 |
| GB 5734-1985 |
电子设备用固定电阻器 第五部分:分规范:精密固定电阻器(可供认证用) |
国家标准局
|
1986-09-01 |
现行 |
| GB 5735-1985 |
电子设备用固定电阻器 第五部分:空白详细规范:精密固定电阻器 评定水平E(可供认证用) |
国家标准局
|
1986-09-01 |
现行 |
| GB/T 5838-1986 |
荧光粉名词术语 |
国家标准局
|
1986-01-02 |
作废 |
| GB/T 5838.1-2015 |
荧光粉 第1部分：术语 |
国家质量监督检验检疫.
|
2016-01-01 |
现行 |
| GB/T 5838.2-2015 |
荧光粉 第2部分：牌号 |
国家质量监督检验检疫.
|
2016-01-01 |
现行 |
| GB/T 5838.3-2015 |
荧光粉 第3部分：性能试验方法 |
国家质量监督检验检疫.
|
2016-01-01 |
现行 |
| GB/T 5838.41-2015 |
荧光粉 第4-1部分：黑白显示管用荧光粉 |
国家质量监督检验检疫.
|
2016-01-01 |
现行 |
| GB/T 5838.42-2015 |
荧光粉 第4-2部分：指示管用荧光粉 |
国家质量监督检验检疫.
|
2016-01-01 |
现行 |
| GB/T 5838.43-2015 |
荧光粉 第4-3部分：示波管和显示管用荧光粉 |
国家质量监督检验检疫.
|
2016-01-01 |
现行 |
| GB/T 5838.44-2015 |
荧光粉 第4-4部分：彩色显像管用荧光粉 |
国家质量监督检验检疫.
|
2016-01-01 |
现行 |
| GB/T 5838.45-2015 |
荧光粉 第4-5部分：彩色显示管用荧光粉 |
国家质量监督检验检疫.
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2016-01-01 |
现行 |
| GB 5839-1986 |
电子管和半导体器件额定值制 |
国家标准局
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1986-12-01 |
现行 |
| GB/T 5960-1986 |
阴极射线管总规范(可供认证用) |
国家标准局
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1987-01-01 |
废止 |
| GB/T 5961-1986 |
彩色显象管空白详细规范(可供认证用) |
国家标准局
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1987-01-01 |
废止 |
| GB/T 5965-2000 |
半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 第一篇 双极型单片数字集成电路门电路（不包括自由逻辑阵列）空白详细规范 |
国家质量技术监督局
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2000-07-01 |
现行 |
| GB/T 5966-1996 |
电子设备用固定电容器 第8部分:分规范:1类瓷介固定电容器 |
国家技术监督局
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1997-10-01 |
作废 |
| GB/T 5966-2011 |
电子设备用固定电容器 第8部分：分规范 1类瓷介固定电容器 |
国家质量监督检验检疫.
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2012-07-01 |
现行 |
| GB/T 5967-1996 |
电子设备用固定电容器 第8部分:空白详细规范 1类瓷介固定电容器 评定水平E |
国家技术监督局
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1997-10-01 |
作废 |