非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法 |
 |
| 标准编号：GB/T 4326-1984 |
标准状态：已作废 |
|
| 标准价格：12.0 元 |
客户评分：  |
|
|
本标准有现货可当天发货一线城市最快隔天可到！ |
|
|
|
|
|
|
本标准适用于在非本征半导体单晶试样中确定载流子霍尔迁移率。为获得霍尔迁移率必须测量电阻率和霍尔系数，因此本标准也分别适用于这些参数的测量。本方法仅在有限的范围内和对锗、硅和砷化镓进行了实验室测量，但该方法也可适用于其他半导体单晶材料。所述的测量技术至少适用于室温电阻率高达104Ωcm的试样。 |
|
|
|
| 英文名称： |
Extrinsic semiconductor single crystals; Measurement of Hall mobility and Hall coefficient |
| 标准状态： |
已作废 |
 替代情况： |
被GB/T 4326-2006代替 |
| 中标分类： |
冶金>>金属理化性能试验方法>>H21金属物理性能试验方法 |
| ICS分类： |
29.040.30 |
| UDC分类： |
621.315.592;621.317.3 |
| 发布部门： |
国家标准局 |
| 发布日期： |
1984-04-12 |
| 实施日期： |
1985-03-01
|
| 作废日期： |
2006-11-01
|
| 首发日期： |
1984-04-12 |
| 复审日期： |
2004-10-14 |
| 归口单位： |
中国有色金属工业协会 |
| 主管部门： |
中国有色金属工业协会 |
| 起草单位： |
有色金属研究总院 |
| 页数： |
11页 |
| 标准前页： |
浏览标准前文 || 下载标准前页 |
|
|
|
|
| |
|
客服中心 |
| 有问题？找在线客服 |
 |
|
|
|
|
温馨提示：标准更新替换较快，请注意您购买的标准时效性。 |
|
|
|
|
| 必备软件下载 |
| Adobe Acrobat Reader 是一个查看、
阅读和打印PDF文件的最佳工具，通
过它可以查阅本站的标准文档 |
 |
|
|
|