标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
GB 1553-1979 |
硅单晶寿命直流光电导衰退测量方法 |
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1980-01-01 |
作废 |
GB/T 1553-1997 |
硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法 |
国家技术监督局
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1997-01-02 |
作废 |
GB/T 1553-2023 |
硅和锗体内少数载流子寿命的测定 光电导衰减法 |
国家市场监督管理总局.
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2024-03-01 |
现行 |
GB 1555-1979 |
硅单晶晶向光图测量方法 |
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1980-01-01 |
作废 |
GB/T 1555-1997 |
半导体单晶晶向测定方法 |
国家技术监督局
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1998-08-01 |
作废 |
GB/T 1555-2023 |
半导体单晶晶向测定方法 |
国家市场监督管理总局.
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2024-03-01 |
现行 |
GB 1556-1979 |
硅单晶晶向X光衍射测量方法 |
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1980-01-01 |
作废 |
GB/T 1557-1989 |
硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法 |
国家技术监督局
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1990-02-01 |
作废 |
GB/T 1557-2006 |
硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法 |
质量监督检验检疫总局.
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2006-11-01 |
作废 |
GB 1558-1983 |
测定硅晶体中代位碳含量的红外吸收方法 |
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1984-09-01 |
作废 |
GB/T 1558-1997 |
硅中代位碳原子含量 红外吸收测量方法 |
国家技术监督局
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1998-08-01 |
作废 |
GB/T 16595-1996 |
晶片通用网格规范 |
国家技术监督局
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1997-04-01 |
作废 |
GB/T 16596-1996 |
确定晶片坐标系规范 |
国家技术监督局
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1997-04-01 |
作废 |
GB/T 17103-1997 |
金属材料定量极图的测定 |
国家技术监督局
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1998-05-01 |
作废 |
GB/T 17170-1997 |
非掺杂半绝缘砷化镓单晶深能级EL2浓度红外吸收测试方法 |
国家技术监督局
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1998-08-01 |
作废 |
GB/T 17473.2-1998 |
厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 细度测定 |
国家质量技术监督局
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1999-03-01 |
作废 |
GB/T 17473.3-1998 |
厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定 |
国家质量技术监督局
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1999-03-01 |
作废 |
GB/T 18036-2000 |
铂铑热电偶细丝的热电动势测量方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2000-09-01 |
作废 |
GB/T 19076-2022 |
烧结金属材料规范 |
国家市场监督管理总局.
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2022-10-01 |
现行 |
GB/T 19289-2003 |
电工钢片(带)的密度、电阻率和叠装系数的测量方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2004-04-01 |
作废 |
GB/T 19289-2019 |
电工钢带(片)的电阻率、密度和叠装系数的测量方法 |
国家市场监督管理总局.
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2020-05-01 |
现行 |
GB/T 19346.1-2017 |
非晶纳米晶合金测试方法 第1部分:环形试样交流磁性能 |
国家质量监督检验检疫.
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2017-11-01 |
现行 |
GB/T 19346.2-2017 |
非晶纳米晶合金测试方法 第2部分:带材叠片系数 |
国家质量监督检验检疫.
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2018-06-01 |
现行 |
GB/T 19346.3-2021 |
非晶纳米晶合金测试方法 第3部分:铁基非晶单片试样交流磁性能 |
国家市场监督管理总局.
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2021-11-01 |
现行 |
GB/T 19921-2018 |
硅抛光片表面颗粒测试方法 |
国家市场监督管理总局.
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2019-07-01 |
现行 |
GB/T 20831-2007 |
电工钢片(带)层间绝缘涂层温度特性测试方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2007-06-01 |
现行 |
GB/T 2105-1991 |
金属材料杨氏模量,切变模量及泊松比测量方法(动力学法) |
国家技术监督局
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1992-07-01 |
作废 |
GB/T 21115-2007 |
块状氧化物超导体磁浮力的测量 |
国家质量监督检验检疫.
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2007-12-01 |
现行 |
GB/T 21115-2007E |
块状氧化物超导体磁浮力的测量 |
General Ad.
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2007-12-01 |
现行 |
GB/T 21227-2007 |
交流损耗测量 Cu/Nb-Ti 多丝复合线磁滞损耗的磁强计测量法 |
国家质量监督检验检疫.
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2008-05-01 |
作废 |
GB/T 21227-2021 |
交流损耗测量 多丝复合超导材料磁滞损耗的磁强计测量法 |
国家市场监督管理总局.
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2021-12-01 |
现行 |
GB/T 21546-2008 |
铌钛复合超导体的直流临界电流测量 |
国家质量监督检验检疫.
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2008-11-01 |
现行 |
GB/T 22586-2008 |
高温超导薄膜微波表面电阻测试 |
国家质量监督检验检疫.
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2009-05-01 |
作废 |
GB/T 22586-2018 |
电子学特性测量 超导体在微波频率下的表面电阻 |
国家质量监督检验检疫.
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2018-10-01 |
现行 |
GB/T 22587-2008 |
基体与超导体体积比测量 Cu/Nb-Ti复合超导体铜-超[体积]比的测量 |
国家质量监督检验检疫.
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2009-05-01 |
作废 |
GB/T 23365-2023 |
钴酸锂电化学性能测试 首次放电比容量及首次充放电效率测试方法 |
国家市场监督管理总局.
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2024-04-01 |
现行 |
GB/T 23605-2020 |
钛合金β转变温度测定方法 |
国家市场监督管理总局.
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2021-02-01 |
现行 |
GB/T 24271-2009 |
热双金属条形元件技术条件 |
国家质量监督检验检疫.
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2010-02-01 |
现行 |
GB/T 24272-2009 |
热双金属平螺旋形元件机械转矩率试验方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2010-02-01 |
现行 |
GB/T 24297-2009 |
热双金属螺旋形元件热偏转率试验方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2010-02-01 |
现行 |