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 您的位置:工标网 >> 标准分类 >> 中标分类 >> H冶金 >> H20/29 金属理化性能试验方法 >> H21金属物理性能试验方法
标准编号 标准名称 发布部门 实施日期 状态
 GB 1553-1979  硅单晶寿命直流光电导衰退测量方法 1980-01-01 作废
 GB/T 1553-1997  硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法 国家技术监督局 1997-01-02 作废
 GB/T 1553-2023  硅和锗体内少数载流子寿命的测定 光电导衰减法 国家市场监督管理总局. 2024-03-01 现行
 GB 1555-1979  硅单晶晶向光图测量方法 1980-01-01 作废
 GB/T 1555-1997  半导体单晶晶向测定方法 国家技术监督局 1998-08-01 作废
 GB/T 1555-2023  半导体单晶晶向测定方法 国家市场监督管理总局. 2024-03-01 现行
 GB 1556-1979  硅单晶晶向X光衍射测量方法 1980-01-01 作废
 GB/T 1557-1989  硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法 国家技术监督局 1990-02-01 作废
 GB/T 1557-2006  硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法 质量监督检验检疫总局. 2006-11-01 作废
 GB 1558-1983  测定硅晶体中代位碳含量的红外吸收方法 1984-09-01 作废
 GB/T 1558-1997  硅中代位碳原子含量 红外吸收测量方法 国家技术监督局 1998-08-01 作废
 GB/T 16595-1996  晶片通用网格规范 国家技术监督局 1997-04-01 作废
 GB/T 16596-1996  确定晶片坐标系规范 国家技术监督局 1997-04-01 作废
 GB/T 17103-1997  金属材料定量极图的测定 国家技术监督局 1998-05-01 作废
 GB/T 17170-1997  非掺杂半绝缘砷化镓单晶深能级EL2浓度红外吸收测试方法 国家技术监督局 1998-08-01 作废
 GB/T 17473.2-1998  厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 细度测定 国家质量技术监督局 1999-03-01 作废
 GB/T 17473.3-1998  厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定 国家质量技术监督局 1999-03-01 作废
 GB/T 18036-2000  铂铑热电偶细丝的热电动势测量方法 国家质量监督检验检疫. 2000-09-01 作废
 GB/T 19076-2022  烧结金属材料规范 国家市场监督管理总局. 2022-10-01 现行
 GB/T 19289-2003  电工钢片(带)的密度、电阻率和叠装系数的测量方法 国家质量监督检验检疫. 2004-04-01 作废
 GB/T 19289-2019  电工钢带(片)的电阻率、密度和叠装系数的测量方法 国家市场监督管理总局. 2020-05-01 现行
 GB/T 19346.1-2017  非晶纳米晶合金测试方法 第1部分:环形试样交流磁性能 国家质量监督检验检疫. 2017-11-01 现行
 GB/T 19346.2-2017  非晶纳米晶合金测试方法 第2部分:带材叠片系数 国家质量监督检验检疫. 2018-06-01 现行
 GB/T 19346.3-2021  非晶纳米晶合金测试方法 第3部分:铁基非晶单片试样交流磁性能 国家市场监督管理总局. 2021-11-01 现行
 GB/T 19921-2018  硅抛光片表面颗粒测试方法 国家市场监督管理总局. 2019-07-01 现行
 GB/T 20831-2007  电工钢片(带)层间绝缘涂层温度特性测试方法 国家质量监督检验检疫. 2007-06-01 现行
 GB/T 2105-1991  金属材料杨氏模量,切变模量及泊松比测量方法(动力学法) 国家技术监督局 1992-07-01 作废
 GB/T 21115-2007  块状氧化物超导体磁浮力的测量 国家质量监督检验检疫. 2007-12-01 现行
 GB/T 21115-2007E  块状氧化物超导体磁浮力的测量 General Ad. 2007-12-01 现行
 GB/T 21227-2007  交流损耗测量 Cu/Nb-Ti 多丝复合线磁滞损耗的磁强计测量法 国家质量监督检验检疫. 2008-05-01 作废
 GB/T 21227-2021  交流损耗测量 多丝复合超导材料磁滞损耗的磁强计测量法 国家市场监督管理总局. 2021-12-01 现行
 GB/T 21546-2008  铌钛复合超导体的直流临界电流测量 国家质量监督检验检疫. 2008-11-01 现行
 GB/T 22586-2008  高温超导薄膜微波表面电阻测试 国家质量监督检验检疫. 2009-05-01 作废
 GB/T 22586-2018  电子学特性测量 超导体在微波频率下的表面电阻 国家质量监督检验检疫. 2018-10-01 现行
 GB/T 22587-2008  基体与超导体体积比测量 Cu/Nb-Ti复合超导体铜-超[体积]比的测量 国家质量监督检验检疫. 2009-05-01 作废
 GB/T 23365-2023  钴酸锂电化学性能测试 首次放电比容量及首次充放电效率测试方法 国家市场监督管理总局. 2024-04-01 现行
 GB/T 23605-2020  钛合金β转变温度测定方法 国家市场监督管理总局. 2021-02-01 现行
 GB/T 24271-2009  热双金属条形元件技术条件 国家质量监督检验检疫. 2010-02-01 现行
 GB/T 24272-2009  热双金属平螺旋形元件机械转矩率试验方法 国家质量监督检验检疫. 2010-02-01 现行
 GB/T 24297-2009  热双金属螺旋形元件热偏转率试验方法 国家质量监督检验检疫. 2010-02-01 现行
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