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半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法

国家标准
标准编号:GB/T 35007-2018 标准状态:现行
标准价格:65.0 客户评分:星星星星1
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标准简介
本标准规定了半导体集成电路 低电压差分信号(LVDS,Low Voltage Differential Signaling)电路(以下称为器件)静态参数、动态参数测试方法的基本原理。
本标准适用于低电压差分信号电路静态参数、动态参数的测试。
英文名称:  Semiconductor integrated circuits—Measuring method of low voltage differential signaling circuitry
什么是中标分类? 中标分类:  电子元器件与信息技术>>微电路>>L56半导体集成电路
什么是ICS分类?  ICS分类:  电子学>>31.200集成电路、微电子学
发布部门:  中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 国家标准化管理委员会
发布日期:  2018-03-15
实施日期:  2018-08-01
提出单位:  中华人民共和国工业和信息化部
什么是归口单位? 归口单位:  全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
起草单位:  成都振芯科技股份有限公司、工业和信息化部电子工业标准化研究院、工业和信息化部电子第五研究所、深圳市国微电子有限公司、深圳市众志联合电子有限公司、中国电子科技集团公司第二十九研究所
起草人:  陈雁、罗彬、郭超、王会影、李锟、蔡志刚、邬海忠、钟科
页数:  40页
出版社:  中国标准出版社
出版日期:  2018-01-01
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