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| 英文名称： |
Semiconductor integrated circuits—Measuring method of voltage regulators |
 替代情况： |
替代GB/T 4377-1996 |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>微电路>>L56半导体集成电路 |
| ICS分类： |
电子学>>31.200集成电路、微电子学 |
| 发布部门： |
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： |
2018-03-15 |
| 实施日期： |
2018-08-01
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| 提出单位： |
中华人民共和国工业和信息化部 |
| 归口单位： |
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78) |
| 主管部门： |
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78) |
| 起草单位： |
圣邦微电子(北京)股份有限公司、中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所、成都振芯科技股份有限公司、北京宇翔电子有限公司 |
| 起草人： |
王鸿儒、袁莹莹、邹臣、朱华、张宝华、张冰、陈志培、罗彬 |
| 页数： |
28页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |