晶片表面上微粒沾污测量和计数的方法 |
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| 标准编号：YS/T 27-1992 |
标准状态：已废止 |
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| 标准价格：8.0 元 |
客户评分：  |
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| 标准状态： |
已废止 |
 中标分类： |
冶金>>金属理化性能试验方法>>H21金属物理性能试验方法 |
| 采标情况： |
等效ASTM F 24-1965 |
| 发布日期： |
1992-03-09 |
| 实施日期： |
1993-01-01
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| 作废日期： |
2005-07-26
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| 页数： |
3页 |
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