标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
SJ 2658.4-1986 |
半导体红外发光二极管测试方法 电容的测试方法 |
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1986-10-01 |
作废 |
SJ/T 2658.4-2015 |
半导体红外发射二极管测量方法 第4部分:总电容 |
工业和信息化部
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2016-04-01 |
现行 |
SJ 2658.5-1986 |
半导体红外发光二极管测试方法 正向串联电阻的测试方法 |
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1986-10-01 |
作废 |
SJ/T 2658.5-2015 |
半导体红外发射二极管测量方法 第5部分:串联电阻 |
工业和信息化部
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2016-04-01 |
现行 |
SJ 2658.6-1986 |
半导体红外发光二极管测试方法 输出光功率的测试方法 |
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1986-10-01 |
作废 |
SJ/T 2658.6-2015 |
半导体红外发射二极管测量方法 第6部分:辐射功率 |
工业和信息化部
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2016-04-01 |
现行 |
SJ 2658.7-1986 |
半导体红外发光二极管测试方法 辐射通量的测试方法 |
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1986-10-01 |
作废 |
SJ/T 2658.7-2015 |
半导体红外发射二极管测量方法 第7部分:辐射通量 |
工业和信息化部
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2016-04-01 |
现行 |
SJ 2658.8-1986 |
半导体红外发光二极管测试方法 法向辐射率的测试方法 |
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1986-10-01 |
作废 |
SJ/T 2658.8-2015 |
半导体红外发射二极管测量方法 第8部分:辐射强度 |
工业和信息化部
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2016-04-01 |
现行 |
SJ 2658.9-1986 |
半导体红外发光二极管测试方法 辐射强度空间分布和半强度角的测试方法 |
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1986-10-01 |
作废 |
SJ/T 2658.9-2015 |
半导体红外发射二极管测量方法 第9部分:辐射强度空间分布和半强度角 |
工业和信息化部
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2016-04-01 |
现行 |
SJ 2659-1986 |
电子工业用树脂芯焊锡丝 |
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1986-10-01 |
现行 |
SJ 2660-1986 |
软钎焊用树脂系焊剂试验方法 |
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1986-10-01 |
作废 |
SJ 2662-1986 |
756型船用导航雷达技术条件 |
电子工业部
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1986-10-01 |
废止 |
SJ 2663-1986 |
黑白电视广播接收机特高频(UHF)频段基本参数 |
电子工业部
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1986-10-01 |
废止 |
SJ 2664-1986 |
氦氖激光器的加速寿命试验方法 |
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1986-10-01 |
现行 |
SJ 2665-1986 |
薄膜介质调谐可变电容器总技术条件 |
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1986-08-01 |
作废 |
SJ 2666-1986 |
薄膜介质调谐可变电容器结构型式尺寸 |
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1994-12-01 |
作废 |
SJ 2667-1986 |
光纤光缆数值孔径测量方法 |
电子工业部
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1986-07-01 |
废止 |
SJ 2668-1986 |
光纤光缆衰减测量方法 |
电子工业部
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1986-07-01 |
废止 |
SJ 2669-1986 |
圆导体无屏蔽带状电缆总规范 |
电子工业部
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1986-07-01 |
现行 |
SJ 2670-1986 |
永磁低速同步电动机 |
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1986-07-01 |
现行 |
SJ 2671-1986 |
纵横制用户交换机安装验收规则 |
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1986-10-01 |
现行 |
SJ 2672.1-1986 |
电子器件详细规范 3DA301型175MHz管壳额定的低电压双极型功率晶体管 |
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1987-06-01 |
废止 |
SJ 2672.2-1986 |
电子器件详细规范 3DA302型175MHz管壳额定的低电压双极型功率晶体管 |
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1987-06-01 |
废止 |
SJ 2672.3-1986 |
电子器件详细规范 3DA303型175MHz管壳额定的低电压双极型功率晶体管 |
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1987-06-01 |
废止 |
SJ 2672.4-1986 |
电子器件详细规范 3DA304型175MHz管壳额定的低电压双极型功率晶体管 |
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1987-06-01 |
废止 |
SJ 2672.5-1986 |
电子器件详细规范 3DA305型175MHz管壳额定的低电压双极型功率晶体管 |
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1987-06-01 |
废止 |
SJ 2672.6-1986 |
电子器件详细规范 3DA306型175MHz管壳额定的低电压双极型功率晶体管 |
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1987-06-01 |
废止 |
SJ 2672.7-1986 |
电子器件详细规范 3DA307型175MHz管壳额定的低电压双极型功率晶体管 |
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1987-06-01 |
废止 |
SJ 2672.8-1986 |
电子器件详细规范 3DA308型175MHz管壳额定的低电压双极型功率晶体管 |
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1987-06-01 |
废止 |
SJ 2672.9-1986 |
电子器件详细规范 3DA309型175MHz管壳额定的低电压双极型功率晶体管 |
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1987-06-01 |
废止 |
SJ 2673.1-1986 |
电子器件详细规范 3DA311型470MHz管壳额定的低电压双极型功率晶体管 |
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1987-06-01 |
废止 |
SJ 2673.2-1986 |
电子器件详细规范 3DA312型470MHz管壳额定的低电压双极型功率晶体管 |
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1987-06-01 |
废止 |
SJ 2673.3-1986 |
电子器件详细规范 3DA313型470MHz管壳额定的低电压双极型功率晶体管 |
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1987-06-01 |
废止 |
SJ 2673.4-1986 |
电子器件详细规范 3DA314型470MHz管壳额定的低电压双极型功率晶体管 |
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1987-06-01 |
废止 |
SJ 2673.5-1986 |
电子器件详细规范 3DA315型470MHz管壳额定的低电压双极型功率晶体管 |
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1987-06-01 |
废止 |
SJ 2673.6-1986 |
电子器件详细规范 3DA316型470MHz管壳额定的低电压双极型功率晶体管 |
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1987-06-01 |
废止 |
SJ 2674-1986 |
电子器件详细规范 低功率非线绕固定电阻器RJ16型金属膜固定电阻器 评定水平E |
电子工业部
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1986-10-01 |
作废 |