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标准编号 标准名称 发布部门 实施日期 状态  SJ 2644.8.2-1985  冷冲模 片弹簧 1986-07-01 废止  SJ 2645.1-1985  冷冲模 弹簧侧压装置 1986-07-01 废止  SJ 2645.1.1-1985  冷冲模 侧压板 1986-07-01 废止  SJ 2645.2-1985  冷冲模 侧压片弹簧 1986-07-01 废止  SJ 2646.1-1985  冷冲模 钢球弹顶装置 1986-07-01 废止  SJ 2646.2-1985  冷冲模 顶板 1986-07-01 废止  SJ 2646.3-1985  冷冲模 顶杆 1986-07-01 废止  SJ 2646.4-1985  冷冲模 带肩推杆 1986-07-01 作废  SJ 2646.5-1985  冷冲模 带螺纹推杆 1986-07-01 废止  SJ 2646.6-1985  冷冲模 推杆 1986-07-01 废止  SJ 2647.1-1985  冷冲模 圆废料切刀 1986-07-01 废止  SJ 2647.2-1985  冷冲模 方废料切刀 1986-07-01 废止  SJ 2648-1985  冷冲模 限位柱 1986-07-01 废止  SJ 2649.1-1985  冷冲模 圆柱螺旋压缩弹簧 1986-07-01 废止  SJ 2649.2-1985  冷冲模 方钢丝弹簧 1986-07-01 废止  SJ 2649.3-1985  冷冲模 聚氨酯弹性体 1986-07-01 废止  SJ 2650.1-1985  冷冲模 圆柱头卸料螺钉 1986-07-01 废止  SJ 2650.2-1985  冷冲模 圆柱头内六角卸料螺钉 1986-07-01 废止  SJ 2651-1985  冷冲模 螺丝塞 1986-07-01 废止  SJ 2652-1985  冷冲模 冷冲模零件技术条件 1986-07-01 废止  SJ 2653-1985  设计文件的更改 设计文件更改的原则和方法 1994-12-01 作废  SJ 2654-1985  设计文件的更改 设计文件更改通知单的格式和编制方法 1994-12-01 作废  SJ/Z 2655-1986  锗单晶缺陷图集 1986-10-01 废止  SJ 2656-1986  钨的光谱分析方法 电子工业部 1986-10-01 现行  SJ 2657-1986  钼的光谱分析方法 电子工业部 1986-10-01 现行  SJ 2658-1986  半导体红外发光二极管测试方法 1986-10-01 现行  SJ 2658.1-1986  半导体红外发光二极管测试方法 总则 1986-10-01 作废  SJ/T 2658.1-2015  半导体红外发射二极管测量方法 第1部分：总则 工业和信息化部 2016-04-01 现行  SJ 2658.10-1986  半导体红外发光二极管测试方法 调制带宽的测试方法 1986-10-01 作废  SJ/T 2658.10-2015  半导体红外发射二极管测量方法 第10部分：调制带宽 工业和信息化部 2016-04-01 现行  SJ 2658.11-1986  半导体红外发光二极管测试方法 脉冲响应特性的测试方法 1986-10-01 作废  SJ/T 2658.11-2015  半导体红外发射二极管测量方法 第11部分：响应时间 2016-04-01 现行  SJ 2658.12-1986  半导体红外发光二极管测试方法 峰值发射波长和光谱半宽度的测试方法 1986-10-01 作废  SJ/T 2658.12-2015  半导体红外发射二极管测量方法 第12部分：峰值发射波长和光谱辐射带宽 工业和信息化部 2016-04-01 现行  SJ 2658.13-1986  半导体红外发光二极管测试方法 输出光功率温度系数的测量方法 1986-10-01 作废  SJ/T 2658.13-2015  半导体红外发射二极管测量方法 第13部分：辐射功率温度系数 工业和信息化部 2016-04-01 现行  SJ 2658.2-1986  半导体红外发光二极管测试方法 正向压降测试方法 1986-10-01 作废  SJ/T 2658.2-2015  半导体红外发射二极管测量方法 第2部分：正向电压 工业和信息化部 2016-04-01 现行  SJ 2658.3-1986  半导休红外发光二极管测试方法 反向电压的测试方法 1986-10-01 作废  SJ/T 2658.3-2015  半导体红外发射二极管测量方法 第3部分：反向电压和反向电流 工业和信息化部 2016-04-01 现行

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