| 标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
| GB 11312-1989 |
压电陶瓷材料和压电晶体声表面波性能测试方法 |
机械电子工业部
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1990-01-01 |
现行 |
| GB/T 11313-1996 |
射频连接器 第1部分:总规范 一般要求和试验方法 |
国家技术监督局
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1997-10-01 |
作废 |
| GB/T 11320-1989 |
压电陶瓷材料性能测试方法低机械品质因数压电陶瓷材料性能的测试 |
信息产业部（电子）
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1990-03-01 |
现行 |
| GB 11387-1989 |
压电陶瓷材料静态弯曲强度试验方法 |
国家技术监督局
|
1990-01-01 |
作废 |
| GB/T 11387-2008 |
压电陶瓷材料性能测试方法 静态弯曲强度的测试 |
国家质量监督检验检疫.
|
2009-02-01 |
现行 |
| GB/T 11446.1-1997 |
电子级水 |
国家技术监督局
|
1998-09-01 |
作废 |
| GB/T 11446.1-2013 |
电子级水 |
国家质量监督检验检疫.
|
2014-08-15 |
现行 |
| GB/T 11446.10-1997 |
电子级水中细菌总数的滤膜培养测试方法 |
国家技术监督局
|
1998-09-01 |
作废 |
| GB/T 11446.10-2013 |
电子级水中细菌总数的滤膜培养测试方法 |
国家质量监督检验检疫.
|
2014-08-15 |
现行 |
| GB/T 11446.3-1997 |
电子级水测试方法通则 |
信息产业部（电子）
|
1998-09-01 |
作废 |
| GB/T 11446.3-2013 |
电子级水测试方法通则 |
国家质量监督检验检疫.
|
2014-08-15 |
现行 |
| GB/T 11446.4-1997 |
电子级水电阻率的测试方法 |
国家技术监督局
|
1998-09-01 |
作废 |
| GB/T 11446.4-2013 |
电子级水电阻率的测试方法 |
国家质量监督检验检疫.
|
2014-08-15 |
现行 |
| GB/T 11446.5-1997 |
电子级水中痕量金属的原子吸收分光光度测试方法 |
信息产业部（电子）
|
1998-09-01 |
作废 |
| GB/T 11446.5-2013 |
电子级水中痕量金属的原子吸收分光光度测试方法 |
国家质量监督检验检疫.
|
2014-08-15 |
现行 |
| GB/T 11446.6-1997 |
电子级水中二氧化硅的分光光度测试方法 |
信息产业部（电子）
|
1998-09-01 |
作废 |
| GB/T 11446.6-2013 |
电子级水中二氧化硅的分光光度测试方法 |
国家质量监督检验检疫.
|
2014-08-15 |
现行 |
| GB/T 11446.7-1997 |
电子级水中痕量氯离子、硝酸根离子、磷酸根离子、硫酸根离子的离子色谱测试方法 |
信息产业部（电子）
|
1998-09-01 |
作废 |
| GB/T 11446.7-2013 |
电子级水中痕量阴离子的离子色谱测试方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2014-08-15 |
现行 |
| GB/T 11446.8-1997 |
电子级水中总有机碳的测试方法 |
国家技术监督局
|
1998-09-01 |
作废 |
| GB/T 11446.8-2013 |
电子级水中总有机碳的测试方法 |
国家质量监督检验检疫.
|
2014-08-15 |
现行 |
| GB/T 11446.9-1997 |
电子级水中微粒的仪器测试方法 |
国家技术监督局
|
1998-09-01 |
作废 |
| GB/T 11446.9-2013 |
电子级水中微粒的仪器测试方法 |
国家质量监督检验检疫.
|
2014-08-15 |
现行 |
| GB/T 11478-1989 |
摄象管总规范 |
信息产业部（电子）
|
1990-03-01 |
废止 |
| GB/T 11479-1989 |
摄象管空白详细规范(可供认证用) |
信息产业部（电子）
|
1990-03-01 |
废止 |
| GB 11480-1989 |
摄象管测试方法 |
信息产业部（电子）
|
1990-03-01 |
废止 |
| GB 11482-1989 |
交流等离子体显示器件总规范 |
机械电子工业部
|
1990-03-01 |
作废 |
| GB 11483-1989 |
交流等离子体显示器件测试方法 |
机械电子工业部
|
1990-03-01 |
作废 |
| GB 11490-1989 |
彩色显象管管基尺寸 |
机械电子工业部
|
1990-03-01 |
作废 |
| GB/T 11490-2011 |
彩色显像管管基尺寸 |
国家质量监督检验检疫.
|
2012-07-01 |
现行 |
| GB 11496.1-1989 |
彩色显示管用Y30-G1荧光粉 |
机械电子工业部
|
1990-03-01 |
作废 |
| GB 11496.2-1989 |
彩色显示管用Y30-B1荧光粉 |
机械电子工业部
|
1990-03-01 |
作废 |
| GB/T 11497.1-1989 |
半导体集成电路CMOS电路系列和品种 54/74HC系列的品种 |
信息产业部（电子）
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1990-04-01 |
作废 |
| GB/T 11497.2-1989 |
半导体集成电路CMOS电路系列和品种 54/74HCT系列的品种 |
信息产业部（电子）
|
1990-04-01 |
作废 |
| GB 11498-1989 |
膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序)(可供认证用) |
机械电子工业部
|
1990-04-01 |
作废 |
| GB/T 11498-2018 |
半导体器件 集成电路 第21部分：膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序)半导体器件 集成电路 第21部分：膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序) |
国家市场监督管理总局.
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2019-07-01 |
现行 |
| GB/T 11499-2001 |
半导体分立器件文字符号 |
国家质量监督检验检疫.
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2002-06-01 |
现行 |
| GB 12078-1989 |
X射线管总规范(可供认证用) |
国家技术监督局
|
1990-08-01 |
作废 |
| GB/T 12078-2012 |
X 射线管总规范 |
国家质量监督检验检疫.
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2013-02-15 |
现行 |
| GB 12079-1989 |
X射线管光电性能测试方法 |
国家技术监督局
|
1990-08-01 |
作废 |