ICS国际标准分类[31电子学]-工标网

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标准编号	标准名称	发布部门	实施日期	状态
GB/T 34900-2017	微机电系统（MEMS）技术基于光学干涉的MEMS微结构残余应变测量方法	国家质量监督检验检疫.	2018-05-01	现行
GB/T 34973-2017	LED显示屏干扰光现场测量方法	国家质量监督检验检疫.	2018-05-01	现行
GB/T 34983-2017	光伏用树脂金刚石切割线	国家质量监督检验检疫.	2018-05-01	现行
GB/T 34989-2017	连接器安全要求和试验	国家质量监督检验检疫.	2018-05-01	现行
GB/T 35001-2018	微波电路噪声源测试方法	国家质量监督检验检疫.	2018-08-01	现行
GB/T 35002-2018	微波电路频率源测试方法	国家质量监督检验检疫.	2018-08-01	现行
GB/T 35003-2018	非易失性存储器耐久和数据保持试验方法	国家质量监督检验检疫.	2018-08-01	现行
GB/T 35004-2018	数字集成电路输入/输出电气接口模型规范	国家质量监督检验检疫.	2018-08-01	现行
GB/T 35005-2018	集成电路倒装焊试验方法	国家质量监督检验检疫.	2018-08-01	现行
GB/T 35006-2018	半导体集成电路电平转换器测试方法	国家质量监督检验检疫.	2018-08-01	现行
GB/T 35007-2018	半导体集成电路低电压差分信号电路测试方法	国家质量监督检验检疫.	2018-08-01	现行
GB/T 35008-2018	串行NOR型快闪存储器接口规范	国家质量监督检验检疫.	2018-08-01	现行
GB/T 35009-2018	串行NAND型快闪存储器接口规范	国家质量监督检验检疫.	2018-08-01	现行
GB/T 35010.1-2018	半导体芯片产品第1部分：采购和使用要求	国家质量监督检验检疫.	2018-08-01	现行
GB/T 35010.2-2018	半导体芯片产品第2部分：数据交换格式	国家质量监督检验检疫.	2018-08-01	现行
GB/T 35010.3-2018	半导体芯片产品第3部分：操作、包装和贮存指南	国家质量监督检验检疫.	2018-08-01	现行
GB/T 35010.4-2018	半导体芯片产品第4部分：芯片使用者和供应商要求	国家质量监督检验检疫.	2018-08-01	现行
GB/T 35010.5-2018	半导体芯片产品第5部分：电学仿真要求	国家质量监督检验检疫.	2018-08-01	现行
GB/T 35010.6-2018	半导体芯片产品第6部分：热仿真要求	国家质量监督检验检疫.	2018-08-01	现行
GB/T 35010.7-2018	半导体芯片产品第7部分：数据交换的XML格式	国家质量监督检验检疫.	2018-08-01	现行
GB/T 35010.8-2018	半导体芯片产品第8部分：数据交换的EXPRESS格式	国家质量监督检验检疫.	2018-08-01	现行
GB/T 35011-2018	微波电路压控振荡器测试方法	国家质量监督检验检疫.	2018-08-01	现行
GB/T 3503-1993	氧化钇	国家技术监督局	1994-03-01	作废
GB/T 3504-1992	荧光级氧化铕	国家技术监督局	1993-04-01	作废
GB/T 35086-2018	MEMS电场传感器通用技术条件	国家市场监督管理总局.	2018-12-01	现行
GB/T 35118-2017	掺铒钇铝石榴石激光晶体光学性能测量方法	国家质量监督检验检疫.	2018-07-01	现行
GB/T 36005-2018	半导体照明设备和系统的光辐射安全测试方法	国家质量监督检验检疫.	2018-10-01	现行
GB/T 36101-2018	LED显示屏干扰光评价要求	国家质量监督检验检疫.	2018-10-01	现行
GB/T 36356-2018	功率半导体发光二极管芯片技术规范	国家市场监督管理总局.	2019-01-01	现行
GB/T 36357-2018	中功率半导体发光二极管芯片技术规范	国家市场监督管理总局.	2019-01-01	现行
GB/T 36358-2018	半导体光电子器件功率发光二极管空白详细规范	国家市场监督管理总局.	2019-01-01	现行
GB/T 36359-2018	半导体光电子器件小功率发光二极管空白详细规范	国家市场监督管理总局.	2019-01-01	现行
GB/T 36360-2018	半导体光电子器件中功率发光二极管空白详细规范	国家市场监督管理总局.	2019-01-01	现行
GB/T 36361-2018	LED加速寿命试验方法	国家市场监督管理总局.	2019-01-01	现行
GB/T 36362-2018	LED应用产品可靠性试验的点估计和区间估计（指数分布）	国家市场监督管理总局.	2019-01-01	现行
GB/T 36474-2018	半导体集成电路第三代双倍数据速率同步动态随机存储器 (DDR3 SDRAM)测试方法	国家市场监督管理总局.	2019-01-01	现行
GB/T 36476-2018	印制电路用金属基覆铜箔层压板通用规范	国家市场监督管理总局.	2019-01-01	现行
GB/T 36477-2018	半导体集成电路快闪存储器测试方法	国家市场监督管理总局.	2019-01-01	现行
GB/T 36479-2018	集成电路焊柱阵列试验方法	国家市场监督管理总局.	2019-01-01	现行
GB/T 36595-2018	纳米钛酸钡	国家市场监督管理总局.	2019-06-01	现行

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