| 标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
| GB/T 16601.4-2017 |
激光器和激光相关设备 激光损伤阈值测试方法 第4部分：检查、探测和测量 |
国家质量监督检验检疫.
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2018-07-01 |
现行 |
| GB/T 16822-1997 |
介电晶体介电性能的试验方法 |
国家技术监督局
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1998-02-01 |
现行 |
| GB/T 16878-1997 |
用于集成电路制造技术的检测图形单元规范 |
国家技术监督局
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1998-03-01 |
现行 |
| GB/T 16879-1997 |
掩模曝光系统精密度和准确度的表示准则 |
国家技术监督局
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1998-03-01 |
现行 |
| GB/T 16880-1997 |
光掩模缺陷分类和尺寸定义的准则 |
国家技术监督局
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1998-03-01 |
现行 |
| GB/T 16894-1997 |
大于100A,环境和管壳额定的整流二极管(包括雪崩整流二极管)空白详细规范 |
国家技术监督局
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1998-03-01 |
现行 |
| GB/T 17007-1997 |
绝缘栅双极型晶体管测试方法 |
国家技术监督局
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1998-08-01 |
作废 |
| GB/T 17008-1997 |
绝缘栅双极型晶体管的词汇及文字符号 |
国家技术监督局
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1998-08-01 |
作废 |
| GB/T 17023-1997 |
半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第二篇 HCMOS数字集成电路54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列族规范 |
国家技术监督局
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1998-09-01 |
现行 |
| GB/T 17024-1997 |
半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第三篇 HCMOS数字集成电路54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列空白详细规范 |
国家技术监督局
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1998-09-01 |
现行 |
| GB/T 17025-1997 |
电子设备用电位器 第4部分:分规范 单圈旋转功率电位器 |
国家技术监督局
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1998-09-01 |
现行 |
| GB/T 17026-1997 |
电子设备用电位器 第4部分:空白详细规范 单圈旋转功率电位器 评定水平E |
国家技术监督局
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1998-09-01 |
废止 |
| GB/T 17027-1997 |
电子设备用电位器 第4部分:空白详细规范 单圈旋转功率电位器 评定水平F |
国家技术监督局
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1998-09-01 |
废止 |
| GB/T 17028-1997 |
电子设备用电位器 第5部分:空白详细规范 单圈旋转低功率电位器 评定水平E |
国家技术监督局
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1998-09-01 |
现行 |
| GB/T 17029-1997 |
电子设备用电位器 第5部分:空白详细规范 单圈旋转低功率电位器 评定水平F |
国家技术监督局
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1998-09-01 |
废止 |
| GB/T 17034-1997 |
电子设备用固定电阻器 第2部分:空白详细规范 低功率非线绕固定电阻器 评定水平F |
国家技术监督局
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1998-09-01 |
废止 |
| GB/T 17035-1997 |
电子设备用固定电阻器 第4部分:空白详细规范 带散热器的功率型固定电阻器 评定水平H |
国家技术监督局
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1998-09-01 |
废止 |
| GB/T 17190-1997 |
电子设备用压电陶瓷滤波器 电子元器件质量评定体系规范 第1部分:总规范 鉴定批准 |
国家技术监督局
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1998-10-01 |
现行 |
| GB/T 17206-1998 |
电子设备用固定电容器 第18部分:分规范 团体(MnO2)与非固体电解质片式铝固定电容器 |
国家技术监督局
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1998-09-01 |
现行 |
| GB/T 17207-1998 |
电子设备用固定电容器 第18部分:空白详细规范 固体(MnO2)电解质片式铝固定电容器评定水平E |
国家技术监督局
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1998-09-01 |
作废 |
| GB/T 17207-2012 |
电子设备用固定电容器 第18-1部分：空白详细规范 表面安装固体(MnO2)电解质铝固定电容器 评定水平EZ |
国家质量监督检验检疫.
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2013-02-15 |
现行 |
| GB/T 17208-1998 |
电子设备用固定电容器 第18部分:空白详细规范 非固体电解质片式铝固定电容器评定水平E |
信息产业部（电子）
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1998-09-01 |
现行 |
| GB/T 17209-1998 |
电子设备用机电开关 第2部分:旋转开关分规范 |
国家技术监督局
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1998-09-01 |
现行 |
| GB/T 17210-1998 |
电子设备用机电开关 第2部分:旋转开关分规范 第一篇 空白详细规范 |
国家技术监督局
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1998-09-01 |
废止 |
| GB/T 17444-1998 |
红外焦平面阵列特性参数测试技术规范 |
国家质量技术监督局
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1999-05-01 |
作废 |
| GB/T 17444-2013 |
红外焦平面阵列参数测试方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2014-04-15 |
现行 |
| GB/T 17562.1-1998 |
频率低于3MHz的矩形连接器 第1部分:总规范 一般要求和编制有质量评定要求的连接器详细规范的导则 |
国家质量技术监督局
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1999-07-01 |
现行 |
| GB/T 17562.8-2002 |
频率低于3MHz的矩形连接器 第8部分: 具有4个信号接触件和电缆屏蔽用接地接触件的连接器详细规范 |
国家质量监督检验检疫.
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2003-05-01 |
现行 |
| GB/T 17564.1-2005 |
电气器件的标准数据素类型和相关分类模式 第1部分：定义——原则和方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2006-04-01 |
作废 |
| GB/T 17564.2-2005 |
电气器件的标准数据素类型和相关分类模式 第2部分：EXPRESS字典模式 |
国家质量监督检验检疫.
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2006-04-01 |
作废 |
| GB/T 17564.4-2001 |
电气元器件的标准数据元素类型和相关分类模式 第4部分：IEC标准数据元素类型、元器件类别和项的基准集 |
国家质量监督检验检疫.
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2002-05-01 |
作废 |
| GB/T 17564.5-2007 |
电气器件的标准数据素类型和相关分类模式 第5部分: EXPRESS 字典模式扩展 |
国家质量监督检验检疫.
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2008-01-01 |
废止 |
| GB/T 17571-1998 |
碱性二次电池和电池组 扣式密封镉镍可充整体电池组 |
国家质量技术监督局
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1999-06-01 |
作废 |
| GB/T 17572-1998 |
半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第四篇 CMOS数字集成电路4000B和4000UB系列族规范 |
国家质量技术监督局
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1999-06-01 |
现行 |
| GB/T 17573-1998 |
半导体器件 分立器件和集成电路 第1部分:总则 |
国家质量技术监督局
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1999-06-01 |
现行 |
| GB/T 17574-1998 |
半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 |
国家质量技术监督局
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1999-06-01 |
现行 |
| GB/T 17574.10-2003 |
半导体器件 集成电路 第2-10部分：数字集成电路 集成电路动态读/写存储器 空白详细规范 |
国家质量监督检验检疫.
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2004-08-01 |
现行 |
| GB/T 17574.11-2006 |
半导体器件 集成电路 第2-11部分：数字集成电路 单电源集成电路电可擦可编程只读存储器 空白详细规范 |
国家质量监督检验检疫.
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2007-05-01 |
现行 |
| GB/T 17574.20-2006 |
半导体器件 集成电路 第2-20部分：数字集成电路 低压集成电路族规范 |
国家质量监督检验检疫.
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2007-05-01 |
现行 |
| GB/T 17574.9-2006 |
半导体器件 集成电路 第2-9部分：数字集成电路紫外光擦除电可编程MOS只读存储器空白详细规范 |
国家质量监督检验检疫.
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2007-05-01 |
现行 |