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| 英文名称： |
Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components; Determination of microstructure |
| 标准状态： |
已作废 |
 替代情况： |
被GB/T 5594.8-2015代替 |
| 中标分类： |
>>>>L32 |
| ICS分类： |
31.030 |
| 发布部门： |
国家标准局 |
| 发布日期： |
1985-01-01 |
| 实施日期： |
1986-01-02
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| 作废日期： |
2016-01-01
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| 首发日期： |
1985-11-27 |
| 复审日期： |
2004-10-14 |
| 提出单位： |
电子工业部 |
| 归口单位： |
信息产业部（电子） |
| 主管部门： |
信息产业部（电子） |
| 起草单位： |
上海科技大学 |
| 起草人： |
李中和 |
| 页数： |
3页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 出版日期： |
1986-01-02 |
| 标准前页： |
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