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| 英文名称： |
Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components; Test method for Young |
 中标分类： |
>>>>L32 |
| ICS分类： |
31.030 |
| UDC分类： |
621.315.612;621.382/.387;620.1 |
| 发布部门： |
国家标准局 |
| 发布日期： |
1985-11-27 |
| 实施日期： |
1986-12-01
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| 首发日期： |
1985-11-27 |
| 复审日期： |
2004-10-14 |
| 提出单位： |
中华人民共和国电子工业部 |
| 归口单位： |
信息产业部（电子） |
| 主管部门： |
信息产业部（电子） |
| 起草单位： |
天津大学 |
| 起草人： |
陆文汉 |
| 页数： |
3页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 标准前页： |
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