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红外焦平面阵列特性参数测试技术规范

国家标准
标准编号:GB/T 17444-1998 标准状态:已作废
标准价格:31.0 客户评分:星星星星1
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标准简介
本标准所指的焦平面,是敏感红外辐照的光敏阵列并带有读出电路的器件。本标准对焦平面特性参数及相关量进行了定义。本标准给出了焦平面主要特性参数的测试方法及测试条件。本标准适用于线列和面阵焦平面。
英文名称:  The technical norms for measurement and test of characteristic parameters of infrared focal plane arrays
标准状态:  已作废
什么是替代情况? 替代情况:  被GB/T 17444-2013代替
什么是中标分类? 中标分类:  电子元器件与信息技术>>光电子器件>>L52红外器件
什么是ICS分类?  ICS分类:  电子学>>31.260光电子学、激光设备
发布部门:  国家质量技术监督局
发布日期:  1998-07-03
实施日期:  1999-05-01
作废日期:  2014-04-15
首发日期:  1998-07-30
复审日期:  2004-10-14
什么是归口单位? 归口单位:  信息产业部(电子)
主管部门:  信息产业部(电子)
起草单位:  中国科学院上海技术物理研究所
页数:  18页
出版社:  中国标准出版社
书号:  155066.1-15431
出版日期:  2004-04-15
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