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红外焦平面阵列参数测试方法

国家标准
标准编号:GB/T 17444-2013 标准状态:现行
标准价格:49.0 客户评分:星星星星1
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标准简介
本标准对红外焦平面阵列特性参数及相关量进行了定义。
本标准给出了红外焦平面阵列特性参数的测试方法及测试条件。
本标准适用于线列和面阵红外焦平面阵列。
英文名称:  Measuring methods for parameters of infrared focal plane arrays
什么是替代情况? 替代情况:  替代GB/T 17444-1998
什么是中标分类? 中标分类:  电子元器件与信息技术>>光电子器件>>L52红外器件
什么是ICS分类?  ICS分类:  电子学>>31.260光电子学、激光设备
发布部门:  中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期:  2013-11-12
实施日期:  2014-04-15
提出单位:  中华人民共和国工业和信息化部
什么是归口单位? 归口单位:  工业和信息化部电子工业标准化研究所
主管部门:  工业和信息化部电子工业标准化研究所
起草单位:  中国科学院上海技术物理研究所
起草人:  丁瑞军、梁平治、唐红兰、陈洪雷、曹妩媚、殷建军、陈世军
页数:  28页
出版社:  中国标准出版社
出版日期:  2014-04-15
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前言
本标准按照GB1.1—2009给出的规则起草。
本标准代替GB/T17444—1998《红外焦平面阵列特性参数测试技术规范》,与GB/T17444—1998相比主要变化如下:
———标准名称修改为《红外焦平面阵列参数测试方法》。
———增加了一些参数定义,如:红外焦平面阵列、像元、帧频、行频、固定图形噪声、平均峰值探测率、饱和信号电压、像元噪声等效温差。
———增加一些参数测试方法,如:固定图形噪声、读出速率、帧频。
———增加了附录D《调制传递函数测试方法》、附录E《非线性度测试方法》。
———修改了部分参数的名称和定义,如:积分时间、读出速率、辐照功率、辐照能量、饱和辐照功率、死像元、过热像元、噪声等效功率。
———修改了部分参数的测试方法,如:响应率、噪声电压、噪声等效温差、探测率、动态范围、相对光谱响应、串音。
本标准由中华人民共和国工业和信息化部提出。
本标准由工业和信息化部电子工业标准化研究所归口。
本标准起草单位:中国科学院上海技术物理研究所。
本标准主要起草人:丁瑞军、梁平治、唐红兰、陈洪雷、曹妩媚、殷建军、陈世军。
本部所代替标准的历次版本发布情况为:
———GB/T17444—1998。
目录
前言 Ⅰ
1 范围 1
2 术语和定义 1
3 符号和单位 4
4 测试方法 5
4.1 方法3001:响应率和响应率不均匀性 5
4.2 方法3002:噪声电压 8
4.3 方法3003:探测率 9
4.4 方法3004:噪声等效温差 9
4.5 方法3005:有效像元率 10
4.6 方法3006:固定图形噪声 11
4.7 方法3007:噪声等效功率 11
4.8 方法3008:饱和辐照功率 12
4.9 方法3009:动态范围 12
4.10 方法3010:相对光谱响应 13
4.11 方法3011:读出速率、帧频 14
4.12 方法3012:串音 15
附录A (规范性附录) 响应率的其他表示 17
附录B(规范性附录) 空间噪声 18
附录C (资料性附录) 备用特性参数及相关量 19
附录D (资料性附录) 调制传递函数测试方法 20
附录E (资料性附录) 非线性度测试方法 22
附录F(规范性附录) 一种推荐算法 23

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