工标网 回首页
标准分类  最新标准New!  标准公告 标准动态  标准论坛
 高级查询
帮助 | 登录 | 注册
查标准上工标网 免费查询标准最新替代作废信息
 您的位置:工标网 >> >> T/WHHLW 78-2023

电源管理芯片的测试方法

国家标准
标准编号:T/WHHLW 78-2023 标准状态:现行
标准价格:0.0 客户评分:星星星星1
立即购买工即可享受本标准状态变更提醒服务!
如何购买?问客服 放入收藏夹,免费跟踪本标准更替信息! 参与评论本标准
标准简介
本文件规定了电源管理芯片的外观检测、电特性测试、温度特性测试、静电防护测试以及检验规则等测试方法。本文件适用于电源管理芯片的测试方法。
什么是替代情况? 替代情况:  武汉互联网产业商会
什么是ICS分类?  ICS分类:  电子学>>31.200集成电路、微电子学
发布部门:  武汉互联网产业商会
发布日期:  2023-12-27
实施日期:  2023-12-31
提出单位:  武汉互联网产业商会
什么是归口单位? 归口单位:  武汉互联网产业商会
起草单位:  湖北秉正讯腾科技有限公司、奇瑞汽车股份有限公司、恒辰微电子(山东)有限公司、深圳市万微半导体有限公司、天水天光半导体有限责任公司、中科新锐集成电路(深圳)有限公司
起草人:  孙向明、高彦平、张圣峰、刘磊、贾俊昌、曾帅、康慧丽、谢跃红
相关搜索: 电源管理 芯片 测试方法  [ 评论 ][ 关闭 ]

集成电路、微电子学相关标准 第1页 第2页 第3页 第4页 
 T/CIE 081-2020 工业级高可靠集成电路评价 第16部分:高频射频识别
 T/CIE 117-2021 MEMS器件机械冲击试验方法
 T/CIE 120-2021 半导体集成电路硬件木马检测方法
 T/CIE 133-2022 磁随机存储器件数据保持时间测试方法
 T/CIE 134-2022 磁随机存储芯片数据保持时间测试方法
 T/CIE 143-2022 复杂组件封装关键结构寿命评价方法
 T/CIE 146-2022 微机电(MEMS)器件晶圆键合试验评价方法
 T/CIE 148-2022 阻变存储单元电学测试规范
 T/CIE 155-2023 非易失性相变存储器电性能测试方法
 免费下载集成电路、微电子学标准相关目录

 发表留言
内 容
  用户:   口令:  
 
 
客服中心
有问题?找在线客服 点击和客服交流,我们的在线时间是:工作日8:30至18:00,节假日;9:00至17:00。工标网欢迎您和我们联系!
未开通400地区或小灵通请直接拨打0898-3137 2222 400-7255-888
客服QQ 1197428036 992023608
MSN或电子邮件 18976748618 13876321121
温馨提示:标准更新替换较快,请注意您购买的标准时效性。
常见问题 帮助中心
我为什么找不到我想要的标准?
配送范围、配送时间和收费标准
如何付款,支持哪些付款方式?
您浏览过的标准  清除
技术产品文件 字体 拉丁字母、数字和..
必备软件下载
Adobe Acrobat Reader 是一个查看、 阅读和打印PDF文件的最佳工具,通 过它可以查阅本站的标准文档
pdf下载
搜索更多
google 中搜索:T/WHHLW 78-2023 电源管理芯片的测试方法
baidu 中搜索:T/WHHLW 78-2023 电源管理芯片的测试方法
yahoo 中搜索:T/WHHLW 78-2023 电源管理芯片的测试方法
soso 中搜索:T/WHHLW 78-2023 电源管理芯片的测试方法
中搜索:T/WHHLW 78-2023 电源管理芯片的测试方法
 
付款方式 - 关于我们 - 帮助中心 - 联系我们 - 诚聘英才 - 合作伙伴 - 使用条款
QQ:1197428036 992023608 有问题? 联系在线客服
Copyright © 工标网 2005-2023,All Right Reserved