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| 英文名称： |
Technical specification for evaluation of space TWT accelerated life test |
 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L40半导体分立器件综合 |
| ICS分类： |
电子学>>半导体器件>>31.080.01半导体器件综合 |
| 发布部门： |
中国电子学会 |
| 提出单位： |
中国电子学会可靠性分会 |
| 归口单位： |
中国电子学会可靠性分会 |
| 起草单位： |
工业和信息化部电子第五研究所、电子科技大学 |
| 起草人： |
宋芳芳、王铁羊、宫玉彬、王晓晗、恩云飞、黄云、周振威、刘沛、邵文生、俞世吉 |
| 页数： |
16页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
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