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半导体激光器测试方法

国家标准
标准编号:GB/T 31359-2015 标准状态:现行
标准价格:59.0 客户评分:星星星星1
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标准简介
本标准规定了半导体激光器主要光电参数的测试方法。
本标准适用于半导体激光器主要光电参数的测试。半导体激光器组件可参考执行。
英文名称:  Test methods of semiconductor lasers
什么是中标分类? 中标分类:  电子元器件与信息技术>>光电子器件>>L51激光器件
什么是ICS分类?  ICS分类:  电子学>>31.260光电子学、激光设备
发布部门:  中国标准出版社
发布日期:  2015-02-04
实施日期:  2015-08-01
提出单位:  中国机械工业联合会
什么是归口单位? 归口单位:  全国光辐射安全和激光设备标准化技术委员会(SAC/TC284)
起草单位:  西安炬光科技有限公司、中国科学院西安光学精密机械研究所、中国科学院半导体研究所、北京国科世纪激光技术有限公司、武汉华工正源光子技术有限公司、中国电子科技集团公司第十三研究所
起草人:  刘兴胜、赵卫、许国栋、张艳春、杨军红、马晓宇、唐琦、吴迪、王贞福、王警卫、谢彦虎、王家赞、李小宁、史俊红、陈海蓉、仲莉、石朝辉、张恩、许海明、张国新
页数:  36页
出版社:  中国标准出版社
出版日期:  2015-08-01
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前言
本标准按照 GB/T1.1—2009给出的规则起草。
本标准由中国机械工业联合会提出。
本标准由全国光辐射安全和激光设备标准化技术委员会(SAC/TC284)归口。
本标准起草单位:西安炬光科技有限公司、中国科学院西安光学精密机械研究所、中国科学院半导体研究所、北京国科世纪激光技术有限公司、武汉华工正源光子技术有限公司、中国电子科技集团公司第十三研究所。
本标准主要起草人:刘兴胜、赵卫、许国栋、张艳春、杨军红、马晓宇、唐琦、吴迪、王贞福、王警卫、谢彦虎、王家赞、李小宁、史俊红、陈海蓉、仲莉、石朝辉、张恩、许海明、张国新。
引用标准
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