半导体分立器件接收和可靠性 |
 |
| 标准编号：GB 4938-1985 |
标准状态：已作废 |
|
| 标准价格：10.0 元 |
客户评分：  |
|
|
立即购买工即可享受本标准状态变更提醒服务！ |
|
|
|
|
|
|
本标准列出了适用于半导体分立器件的电耐久性试验方法，可以从中选择使用。 |
|
|
|
| 英文名称： |
Acceptance and reliability for discrete semiconductor devices |
| 标准状态： |
已作废 |
 替代情况： |
作废; |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L40半导体分立器件综合 |
| UDC分类： |
621.382.2/.3.004.12;62-192 |
| 采标情况： |
IEC 147-4-1976 IDT |
| 发布部门： |
国家标准局 |
| 发布日期： |
1985-02-06 |
| 实施日期： |
1985-11-01
|
| 起草单位： |
电子部第十三研究所 |
| 页数： |
8页 |
|
|
|
|
| |
|
客服中心 |
| 有问题？找在线客服 |
 |
|
|
|
|
温馨提示：标准更新替换较快，请注意您购买的标准时效性。 |
|
|
|
|
| 必备软件下载 |
| Adobe Acrobat Reader 是一个查看、
阅读和打印PDF文件的最佳工具，通
过它可以查阅本站的标准文档 |
 |
|
|
|