| 标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
| SJ/T 10914-1996 |
气象图传真机（模拟）技术要求 |
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1997-01-01 |
现行 |
| SJ/T 10915-1996 |
气象图传真机（模拟）测试方法 |
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1997-01-01 |
现行 |
| SJ/T 10916-1996 |
彩色显像管包装 |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10919-1996 |
彩色电视广播接收机包装 |
国家标准局
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1997-01-01 |
现行 |
| SJ/Z 1092-1976 |
镀铑溶液典型分析方法 |
第四机械工业部
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1977-01-01 |
现行 |
| SJ/T 10920-1996 |
电视广播接收机运输包装件试验方法 |
国家标准局
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1997-01-01 |
现行 |
| SJ/T 10921-1996 |
电子工业用硅酸钾溶液中碳酸钾的测定方法 |
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1997-01-01 |
现行 |
| SJ/T 10922-1996 |
电子工业用硅酸钾溶液分析方法通则 |
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1997-01-01 |
现行 |
| SJ/T 10923-1996 |
电子工业用硅酸钾溶液中总碱度的测定方法 |
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1997-01-01 |
现行 |
| SJ/T 10924-1996 |
电子工业用硅酸钾溶液中二氧化硅含量的测定方法 |
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1997-01-01 |
现行 |
| SJ/T 10925-1996 |
电子工业用硅酸钾溶液浓度及模数的计算方法 |
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1997-01-01 |
现行 |
| SJ/T 10926-1996 |
电子工业用硅酸钾溶液中铁的测定方法 |
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1997-01-01 |
现行 |
| SJ/T 10927-1996 |
电子工业用硅酸钾溶液中铜的测定方法 |
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1997-01-01 |
现行 |
| SJ/T 10928-1996 |
电子工业用硅酸钾溶液中镍的测定方法 |
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1997-01-01 |
现行 |
| SJ/T 10929-1996 |
电子工业用硅酸钾溶液中重金属（Ｐｂ）的测定方法 |
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1997-01-01 |
现行 |
| SJ/Z 1093-1976 |
氰化镀铜锌合金(黄铜)溶液典型分析方法 |
第四机械工业部
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1977-01-01 |
现行 |
| SJ/T 10930-1996 |
电子工业用硅酸钾溶液中氯化物的测定方法 |
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1997-01-01 |
现行 |
| SJ/T 10931-1996 |
电子器件详细规范 半导体微型计算机集成电路Ｃμ６８００型８位微处理器（可供认证用） |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10932-1996 |
电子器件详细规范 半导体集成电路ＣＣ４０１３型ＣＭＯＳ双上升沿Ｄ触发器（可供认证用） |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10933-1996 |
电子器件详细规范 半导体集成电路ＣＣ４５１８型ＣＭＯＳ双十进制同步计数器（可供认证用） |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10934-1996 |
电子器件详细规范 半导体集成电路ＣＷ７８０５型三端正稳压器（可供认证用） |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10935-1996 |
电子器件详细规范 半导体集成电路ＣＦ７４７型通用双运算放大器（可供认证用） |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10936-1996 |
彩色显像管玻璃壳残余应力测试方法 |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/Z 1094-1976 |
氰化镀铜锡合金溶液典型分析方法 |
第四机械工业部
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1977-01-01 |
现行 |
| SJ/T 10943-1996 |
电真空器件用刚玉粉粒度分布的测定 密度天平法 |
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1997-01-01 |
作废 |
| SJ/T 10944-1996 |
电真空器件用刚玉粉 |
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1997-01-01 |
现行 |
| SJ/T 10945-1996 |
电真空器件用刚玉粉牌号命名方法 |
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1997-01-01 |
现行 |
| SJ/T 10946-1996 |
锡焊用液态焊剂（松香基） |
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1997-01-01 |
作废 |
| SJ/T 10947-1996 |
电子器件详细规范 ＦＧ３４１０５２、ＦＧ３４３０５３型半导体绿色发光二极管 |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10948-1996 |
电子器件详细规范 ＦＧ３１３０５２、ＦＧ３１４０５３、ＦＧ３１３０５４、ＦＧ３１４０５５型半导体红色发光二极管 |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10949-1996 |
电子器件详细规范 ２ＣＺ３２１型环境额定硅整流二极管（可供认证用） |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/Z 1095-1976 |
镀铅锡合金溶液典型分析方法 |
第四机械工业部
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1977-01-01 |
现行 |
| SJ/T 10950-1996 |
电子器件详细规范 ２ＣＺ３２２型环境额定硅整流二极管（可供认证用） |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10951-1996 |
电子器件详细规范 ２ＣＺ３３型环境额定硅整流二极管（可供认证用） |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10952-1996 |
电子器件详细规范２ＣＺ３２３型环境额定硅整流二极管（可供认证用） |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10953-1996 |
电子器件详细规范 ２ＣＺ３４Ｑ型环境额定硅整流二极管（可供认证用） |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10954-1996 |
电子器件详细规范 ２ＣＫ１２０型硅开关二极管（可供认证用） |
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1997-01-01 |
现行 |
| SJ/T 10955-1996 |
电子器件详细规范 ３ＤＧ１０７型高频放大环境额定双极型晶体管（可供认证用） |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10956-1996 |
电子器件详细规范 ４ＣＳ１２２型硅高频双绝缘栅场效应晶体管（可供认证用） |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 10957-1996 |
电子器件详细规范 ４ＣＳ１０３型硅高频双绝缘栅场效应晶体管（可供认证用） |
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1997-01-01 |
废止 |