标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
JB/T 7618-2011 |
避雷器密封试验 |
工业和信息化部
|
2012-04-01 |
现行 |
JB/T 7630.1-2008 |
铅酸蓄电池超细玻璃纤维隔板 |
国家发展和改革委员会
|
2008-07-01 |
废止 |
JB/T 7630.2-2008 |
铅酸蓄电池微孔橡胶隔板 |
国家发展和改革委员会
|
2008-07-01 |
废止 |
JB/T 7630.3-2008 |
铅酸蓄电池烧结聚氯乙烯隔板 |
国家发展和改革委员会
|
2008-07-01 |
废止 |
JB/T 7630.4-2008 |
铅酸蓄电池熔喷聚丙烯隔板 |
国家发展和改革委员会
|
2008-07-01 |
废止 |
JB/T 7630.5-2008 |
铅酸蓄电池微孔聚乙烯隔板 |
国家发展和改革委员会
|
2008-07-01 |
废止 |
JB/T 7631-2005 |
变压器用电子温控器 |
国家发展和改革委员会
|
2005-11-01 |
作废 |
JB/T 7632-2006 |
串联电抗器试验导则 |
国家发展和改革委员会
|
2006-10-01 |
废止 |
JB/T 7633-2007 |
变压器用螺旋板式强油水冷却器 |
国家发展和改革委员会
|
2007-07-01 |
现行 |
JB/T 7634-2004 |
定子槽绝缘插入机 |
国家发展和改革委员会
|
2005-04-01 |
作废 |
JB/T 7638-2002 |
湿热带电力系统二次电路用控制及继电器保护屏(柜、台)技术条件 |
全国量度继电器和保护.
|
2002-12-01 |
现行 |
JB/T 7774.1-2008 |
银氧化锌电触头材料化学分析方法 第1部分:EDTA容量法测定锌量 |
国家发展和改革委员会
|
2008-07-01 |
现行 |
JB/T 7774.2-2008 |
银氧化锌电触头材料化学分析方法 第2部分:铬天青S分光光度法测定铝量 |
国家发展和改革委员会
|
2008-07-01 |
现行 |
JB/T 7774.3-2008 |
银氧化锌电触头材料化学分析方法 第3部分:硫脲分光光度法测定铋量 |
国家发展和改革委员会
|
2008-07-01 |
现行 |
JB/T 7774.4-2008 |
银氧化锌电触头材料化学分析方法 第4部分:火焰原子吸收光谱法测定镍量 |
国家发展和改革委员会
|
2008-07-01 |
现行 |
JB/T 7774.5-2008 |
银氧化锌电触头材料化学分析方法 第5部分:火焰原子吸收光谱法测定镁量 |
国家发展和改革委员会
|
2008-07-01 |
现行 |
JB/T 7774.6-2008 |
银氧化锌电触头材料化学分析方法 第6部分:火焰原子吸收光谱法测定镉量 |
国家发展和改革委员会.
|
2008-07-01 |
现行 |
JB/T 7775.1-2008 |
铜钨碳化钨真空触头材料化学分析方法 第1部分:碘量法测定铜量 |
国家发展和改革委员会.
|
2008-09-01 |
现行 |
JB/T 7775.2-2008 |
铜钨碳化钨真空触头材料化学分析方法 第2部分:气体容量法测定碳量 |
国家发展和改革委员会
|
2008-09-01 |
现行 |
JB/T 7776.1-2008 |
银氧化镉电触头材料化学分析方法 第1部分:EDTA络合滴定法测定镉量 |
国家发展和改革委员会
|
2008-09-01 |
现行 |
JB/T 7776.2-2008 |
银氧化镉电触头材料化学分析方法 第2部分:火焰原子吸收光谱法测定锌量 |
国家发展和改革委员会
|
2008-09-01 |
现行 |
JB/T 7776.3-2008 |
银氧化镉电触头材料化学分析方法 第3部分:火焰原子吸收光谱法测定镍量 |
国家发展和改革委员会
|
2008-09-01 |
现行 |
JB/T 7776.4-2008 |
银氧化镉电触头材料化学分析方法 第4部分:苯芴酮分光光度法测定锡量 |
国家发展和改革委员会.
|
2008-09-01 |
现行 |
JB/T 7776.5-2008 |
银氧化镉电触头材料化学分析方法 第5部分:硫脲分光光度法测定铋量 |
国家发展和改革委员会
|
2008-09-01 |
现行 |
JB/T 7776.6-2008 |
银氧化镉电触头材料化学分析方法 第6部分:火焰原子吸收光谱法测定镁量 |
国家发展和改革委员会
|
2008-09-01 |
现行 |
JB/T 7776.7-2008 |
银氧化镉电触头材料化学分析方法 第7部分:铬天青S分光光度法测定铝量 |
国家发展和改革委员会
|
2008-09-01 |
现行 |
JB/T 7777.1-2008 |
银氧化锡氧化铟电触头材料化学分析方法 第1部分:碘量法测定锡量 |
国家发展和改革委员会.
|
2008-07-01 |
现行 |
JB/T 7777.2-2008 |
银氧化锡氧化铟电触头材料化学分析方法 第2部分:EDTA容量法测定铟量 |
国家发展和改革委员会
|
2008-07-01 |
现行 |
JB/T 7777.3-2008 |
银氧化锡氧化铟电触头材料化学分析方法 第3部分:丁二酮肟分光光度法测定镍量 |
国家发展和改革委员会
|
2008-07-01 |
现行 |
JB/T 7777.4-2008 |
银氧化锡氧化铟电触头材料化学分析方法 第4部分:PAN分光光度法测定锌量 |
国家发展和改革委员会.
|
2008-07-01 |
现行 |
JB/T 7777.5-2008 |
银氧化锡氧化铟电触头材料化学分析方法 第5部分:火焰原子吸收光谱法测定镍、锌和铟量 |
国家发展和改革委员会
|
2008-07-01 |
现行 |
JB/T 7778.1-2008 |
银碳化钨电触头材料化学分析方法 第1部分:硫氰酸盐容量法测定银量 |
国家发展和改革委员会
|
2008-07-01 |
现行 |
JB/T 7778.2-2008 |
银碳化钨电触头材料化学分析方法 第2部分:丁二酮肟分光光度法测定镍量 |
国家发展和改革委员会.
|
2008-07-01 |
现行 |
JB/T 7778.3-2008 |
银碳化钨电触头材料化学分析方法 第3部分:气体容量法测定总碳量 |
国家发展和改革委员会.
|
2008-07-01 |
现行 |
JB/T 7778.4-2008 |
银碳化钨电触头材料化学分析方法 第4部分:酸分离-气体容量法测定游离碳量 |
国家发展和改革委员会.
|
2008-07-01 |
现行 |
JB/T 7779-2008 |
银碳化钨(12)石墨(3)电触头技术条件 |
国家发展和改革委员会.
|
2008-07-01 |
现行 |
JB/T 7780.1-2008 |
铆钉型触头用线材机械物理性能试验方法 第1部分:密度测量 |
国家发展和改革委员会
|
2008-07-01 |
现行 |
JB/T 7780.2-2008 |
铆钉型触头用线材机械物理性能试验方法 第2部分:硬度测量 |
国家发展和改革委员会.
|
2008-07-01 |
现行 |
JB/T 7780.3-2008 |
铆钉型触头用线材机械物理性能试验方法 第3部分:电阻率测量 |
国家发展和改革委员会
|
2008-07-01 |
现行 |
JB/T 7780.4-2008 |
铆钉型触头用线材机械物理性能试验方法 第4部分:拉抻试验 |
国家发展和改革委员会
|
2008-07-01 |
现行 |