标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
GB/T 4314-2017 |
吸气剂术语 |
国家质量监督检验检疫.
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2018-07-01 |
现行 |
GB/T 43493.1-2023 |
半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第1部分:缺陷分类 |
国家市场监督管理总局.
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2024-07-01 |
即将实施 |
GB/T 43493.2-2023 |
半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第2部分:缺陷的光学检测方法 |
国家市场监督管理总局.
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2024-07-01 |
即将实施 |
GB/T 43493.3-2023 |
半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第3部分:缺陷的光致发光检测方法 |
国家市场监督管理总局.
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2024-07-01 |
即将实施 |
GB/T 5593-1996 |
电子元器件结构陶瓷材料 |
国家技术监督局
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1997-05-01 |
作废 |
GB/T 5593-2015 |
电子元器件结构陶瓷材料 |
国家质量监督检验检疫.
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2016-01-01 |
现行 |
GB/T 5594.3-2015 |
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第3部分:平均线膨胀系数测试方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2016-01-01 |
现行 |
GB/T 5594.4-2015 |
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分:介电常数和介质损耗角正切值的测试方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2016-01-01 |
现行 |
GB/T 5594.6-2015 |
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第6部分:化学稳定性测试方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2016-01-01 |
现行 |
GB/T 5594.7-2015 |
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第7部分:透液性测定方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2016-01-01 |
现行 |
GB/T 5594.8-2015 |
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分:显微结构的测定方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2016-01-01 |
现行 |
GB/T 5596-1996 |
电容器用陶瓷介质材料 |
国家技术监督局
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1997-05-01 |
现行 |
GB/T 5597-1999 |
固体电介质微波复介电常数的测试方法 |
国家质量技术监督局
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1999-01-02 |
现行 |
GB/T 5598-2015 |
氧化铍瓷导热系数测定方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2016-01-01 |
现行 |
GB/T 5838.1-2015 |
荧光粉 第1部分:术语 |
国家质量监督检验检疫.
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2016-01-01 |
现行 |
GB/T 5838.2-2015 |
荧光粉 第2部分:牌号 |
国家质量监督检验检疫.
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2016-01-01 |
现行 |
GB/T 5838.3-2015 |
荧光粉 第3部分:性能试验方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2016-01-01 |
现行 |
GB/T 5838.41-2015 |
荧光粉 第4-1部分:黑白显示管用荧光粉 |
国家质量监督检验检疫.
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2016-01-01 |
现行 |
GB/T 5838.42-2015 |
荧光粉 第4-2部分:指示管用荧光粉 |
国家质量监督检验检疫.
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2016-01-01 |
现行 |
GB/T 5838.43-2015 |
荧光粉 第4-3部分:示波管和显示管用荧光粉 |
国家质量监督检验检疫.
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2016-01-01 |
现行 |
GB/T 5838.44-2015 |
荧光粉 第4-4部分:彩色显像管用荧光粉 |
国家质量监督检验检疫.
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2016-01-01 |
现行 |
GB/T 5838.45-2015 |
荧光粉 第4-5部分:彩色显示管用荧光粉 |
国家质量监督检验检疫.
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2016-01-01 |
现行 |
GB/T 6426-1999 |
铁电陶瓷材料电滞回线的准静态测试方法 |
国家质量技术监督局
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1999-12-01 |
现行 |
GB/T 6427-1999 |
压电陶瓷振子频率温度稳性的测量方法 |
国家质量技术监督局
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1999-12-01 |
现行 |
GB/T 6628-1996 |
人造石英晶体制材 |
国家技术监督局
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1997-05-01 |
作废 |
GB 9000.1-1988 |
电子玻璃化学分析方法总则 |
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1988-10-01 |
作废 |
GB 9000.10-1988 |
电子玻璃中氧化锂 氧化钠和氧化钾的原子吸收分析 |
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1988-10-01 |
作废 |
GB 9000.11-1988 |
电子玻璃中氧化钙 氧化锶 氧化钡及氧化镁的原子吸收分析 |
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1988-10-01 |
作废 |
GB 9000.12-1988 |
电子玻璃中氧化锌 氧化铅 氧化铝和氧化锑的原子吸收分析 |
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1988-10-01 |
作废 |
GB 9000.13-1988 |
电子玻璃中氧化钴 氧化镍和二氧化锰的原子吸收分析 |
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1988-10-01 |
作废 |
GB 9000.14-1988 |
电子玻璃中氧化铁和二氧化钛的分光光度分析 |
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1988-10-01 |
作废 |
GB 9000.15-1988 |
电子玻璃中二氧化锆的分析 |
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1988-10-01 |
作废 |
GB 9000.16-1988 |
电子玻璃中三氧化二砷的分析 |
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1988-10-01 |
作废 |
GB 9000.17-1988 |
电子玻璃中二氧化锰的分析(高锰酸钾氧化法) |
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1988-10-01 |
作废 |
GB 9000.2-1988 |
电子玻璃中二氧化硅的分析 |
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1988-10-01 |
作废 |
GB 9000.3-1988 |
电子玻璃中三氧化二硼的分析 |
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1988-10-01 |
作废 |
GB 9000.4-1988 |
电子玻璃中氟的分析(离子选择电极测定法) |
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1988-10-01 |
作废 |
GB 9000.5-1988 |
电子玻璃中氧化铅的分析(萃取分离-EDTA络合滴定法) |
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1988-10-01 |
作废 |
GB 9000.6-1988 |
电子玻璃中氧化钡的分析(硫酸钡重量法) |
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1988-10-01 |
作废 |
GB 9000.7-1988 |
电子玻璃中氧化铝的分析(EDTA络合滴定法) |
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1988-10-01 |
作废 |