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标准编号 标准名称 发布部门 实施日期 状态  SJ 2273-1983  ３ＤＧ８１型ＮＰＮ硅外延平面超高频小功率三极管 1983-10-01 废止  SJ 2274-1983  ３ＤＧ１１３型ＮＰＮ硅外延平面超高频小功率三极管 1983-10-01 废止  SJ 2275-1983  ３ＤＧ８５型ＮＰＮ硅外延平面超高频小功率三极管 1983-10-01 废止  SJ 2276-1983  ３ＤＧ１１４型ＮＰＮ硅外延平面超高频小功率三极管 1983-10-01 废止  SJ 2277-1983  ３ＤＧ１１５型ＮＰＮ硅外延平面超高频小功率三极管 1983-10-01 废止  SJ 2278-1983  ３ＤＧ７２型ＮＰＮ硅外延平面超高频小功率三极管 1983-10-01 废止  SJ 2279-1983  ３ＤＧ１２３型ＮＰＮ硅外延平面超高频小功率三极管 1983-10-01 废止  SJ 2281-1983  ３ＤＧ１３２型ＮＰＮ硅外延平面超高频小功率三极管 1983-10-01 废止  SJ 2282-1983  ３ＤＧ１４３型ＮＰＮ硅外延平面超高频低噪声小功率三极管 1983-10-01 废止  SJ 2283-1983  ３ＤＧ１４４型ＮＰＮ硅外延平面超高频低噪声小功率三极管 1983-10-01 废止  SJ 2284-1983  ３ＤＧ１４５型ＮＰＮ硅外延平面超高频低噪声小功率三极管 1983-10-01 废止  SJ 2285-1983  ３ＤＧ１４６型ＮＰＮ硅外延平面超高频低噪声小功率三极管 1983-10-01 废止  SJ 2286-1983  ３ＤＧ１４７型ＮＰＮ硅外延平面超高频低噪声小功率三极管 1983-10-01 废止  SJ 2287-1983  ３ＤＧ１４８型ＮＰＮ硅外延平面超高频低噪声小功率三极管 1983-10-01 废止  SJ 2288-1983  ３ＤＧ１４９型ＮＰＮ硅外延平面超高频低噪声小功率三极管 1983-10-01 废止  SJ 2289-1983  ３ＤＧ１５１型ＮＰＮ硅外延平面超高频低噪声小功率三极管 1983-10-01 废止  SJ 2290-1983  ３ＤＧ１５２型ＮＰＮ硅外延平面超高频低噪声小功率三极管 1983-10-01 废止  SJ 2291-1983  ３ＤＧ１５３型ＮＰＮ硅外延平面超高频低噪声小功率三极管 1983-10-01 废止  SJ 2292-1983  ３ＤＧ１５４型ＮＰＮ硅外延平面超高频低噪声小功率三极管 1983-10-01 废止  SJ 2293-1983  ３ＤＧ１５５型ＮＰＮ硅外延平面超高频低噪声小功率三极管 1983-10-01 废止  SJ 2294-1983  ３ＤＧ１５６型ＮＰＮ硅外延平面超高频低噪声小功率三极管 1983-10-01 废止  SJ 2354.1-1983  ＰＩＮ、雪崩光电二极管光电参数测试方法 总则 1984-07-01 作废  SJ 2354.10-1983  ＰＩＮ、雪崩光电二极管列阵串光因子的测试方法 1984-07-01 作废  SJ 2354.11-1983  ＰＩＮ、雪崩光电二极管列阵音区宽度的测试方法 1984-07-01 作废  SJ 2354.12-1983  ＰＩＮ、雪崩光电二极管反向击穿电压温度系数的测试方法 1984-07-01 作废  SJ 2354.13-1983  ＰＩＮ、雪崩光电二极管倍增因子的测试方法 1984-07-01 作废  SJ 2354.14-1983  ＰＩＮ、雪崩光电二极管过剩噪声指数的测试方法 1984-07-01 作废  SJ 2354.2-1983  ＰＩＮ、雪崩光电二极管反向击穿电压的测试方法 1984-07-01 作废  SJ 2354.3-1983  ＰＩＮ、雪崩光电二极管暗电流的测试方法 1984-07-01 作废  SJ 2354.4-1983  ＰＩＮ、雪崩光电二极管正向压降的测试方法 1984-07-01 作废  SJ 2354.5-1983  ＰＩＮ、雪崩光电二极管电容的测试方法 1984-07-01 作废  SJ 2354.6-1983  ＰＩＮ、雪崩光电二极管响应度的测试方法 1984-07-01 作废  SJ 2354.7-1983  ＰＩＮ、雪崩光电二极管光谱响应曲线和光谱响应范围的测试方法 1984-07-01 作废  SJ 2354.8-1983  ＰＩＮ、雪崩光电二极管脉冲上升、下降时间的测试方法 1984-07-01 作废  SJ 2354.9-1983  ＰＩＮ、雪崩光电二极管噪声等效功率的测试方法 1984-07-01 作废  SJ 2355.1-1983  半导体发光器件测试方法 总则 1984-07-01 作废  SJ 2355.2-1983  半导体发光器件测试方法 正向压降的测试方法 1984-05-01 作废  SJ 2355.3-1983  半导体发光器件测试方法 反向电流的测试方法 1984-07-01 作废  SJ 2355.4-1983  半导体发光器件测试方法 结电容的测试方法 1984-07-01 作废  SJ 2355.5-1983  半导体发光器件测试方法 法向光强和半强度角的测试方法 1984-07-01 作废

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