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GB/T 22319.6-2023 石英晶体元件参数的测量 第6部分:激励电平相关性(DLD)的测量
(现行)
中标分类:
电子元器件与信息技术
>>
电子元件
>>
L21石英晶体、压电元件
ICS 分类:
电子学
>>
31.140压电器件和介质器件
发布日期:2023-09-07 实施日期:2023-09-07
简介: 本文件适用于石英晶体元件激励电平相关性(DLD)的测量。本文件规定两种试验方法(A和C)和一种基准测量方法(方法B)。 方法A以IEC 60444-5的π型网络为基础,适用于本文件所覆盖的整个频率范围。 基准测量方法B依据IEC 60444-5或 ...
标准定价: ¥
38.0
元
GB/T 42968.1-2023 集成电路 电磁抗扰度测量 第1部分:通用条件和定义
(现行)
中标分类:
电子元器件与信息技术
>>
微电路
>>
L56半导体集成电路
ICS 分类:
电子学
>>
31.200集成电路、微电子学
发布日期:2023-09-07 实施日期:2023-09-07
简介: 本文件定义了集成电路(IC)传导和辐射骚扰电磁抗扰度测量的通用信息,描述了常规的试验条件、试验设备和布置、试验程序和试验报告内容。 附录A中给出了试验方法的对照表,帮助选择适当的测量方法。
标准定价: ¥
43.0
元
GB/T 42968.8-2023 集成电路 电磁抗扰度测量 第8部分:辐射抗扰度测量 IC带状线法
(现行)
中标分类:
电子元器件与信息技术
>>
微电路
>>
L56半导体集成电路
ICS 分类:
电子学
>>
31.200集成电路、微电子学
发布日期:2023-09-07 实施日期:2023-09-07
简介: 本文件描述了集成电路(IC)对150 kHz~3 GHz频率范围内的射频(RF)辐射电磁骚扰的抗扰度测量方法。
标准定价: ¥
41.0
元
GB/T 42969-2023 元器件位移损伤试验方法
(现行)
中标分类:
电子元器件与信息技术
>>
微电路
>>
L56半导体集成电路
ICS 分类:
电子学
>>
31.200集成电路、微电子学
发布日期:2023-09-07 实施日期:2023-09-07
简介: 本文件描述了元器件位移损伤的试验方法。 本文件适用于光电集成电路和分立器件,如电荷耦合器件(CCD)、光电耦合器、图像敏感器(APS)、光敏管等,用质子、中子进行位移损伤辐照试验。 其他元器件的位移损伤辐照试验参照进行。
标准定价: ¥
29.0
元
GB/T 42970-2023 半导体集成电路 视频编解码电路测试方法
(现行)
中标分类:
电子元器件与信息技术
>>
微电路
>>
L56半导体集成电路
ICS 分类:
电子学
>>
31.200集成电路、微电子学
发布日期:2023-09-07 实施日期:2023-09-07
简介: 本文件描述了半导体集成电路视频编解码(video encoder and decoder)电路中的模拟视频接口类电路电特性测试方法。 本文件适用于视频编解码电路中的模拟视频接口类电路的测试。
标准定价: ¥
54.0
元
GB/T 42972-2023 微波电路 检波器测试方法
(现行)
中标分类:
电子元器件与信息技术
>>
微电路
>>
L55微电路综合
ICS 分类:
电子学
>>
31.200集成电路、微电子学
发布日期:2023-09-07 实施日期:2023-09-07
简介: 本文件描述了微波电路中检波器的电参数测试方法。 本文件适用于单管、单片及混合集成等微波电路中检波器的电参数测试,包括检波二极管、均方根检波器、对数放大检波器、包络/峰值检波器等。
标准定价: ¥
43.0
元
GB/T 42974-2023 半导体集成电路 快闪存储器(FLASH)
(现行)
中标分类:
电子元器件与信息技术
>>
微电路
>>
L56半导体集成电路
ICS 分类:
电子学
>>
31.200集成电路、微电子学
发布日期:2023-09-07 实施日期:2023-09-07
简介: 本文件规定了快闪存储器(FLASH)的分类、技术要求、电测试方法和检验规则。 本文件适用于FLASH的设计、制造、采购、验收。
标准定价: ¥
38.0
元
GB/T 42973-2023 半导体集成电路 数字模拟(DA)转换器
(现行)
中标分类:
电子元器件与信息技术
>>
微电路
>>
L56半导体集成电路
ICS 分类:
电子学
>>
31.200集成电路、微电子学
发布日期:2023-09-07 实施日期:2023-09-07
简介: 本文件规定了数字模拟(DA)转换器(以下简称DA转换器或DAC)的分类、技术要求、测试方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。 本文件适用于采用半导体集成电路工艺设计制造的DA转换器。
标准定价: ¥
59.0
元
GB/T 42975-2023 半导体集成电路 驱动器测试方法
(现行)
中标分类:
电子元器件与信息技术
>>
微电路
>>
L56半导体集成电路
ICS 分类:
电子学
>>
31.200集成电路、微电子学
发布日期:2023-09-07 实施日期:2023-09-07
简介: 本文件规定了半导体集成电路驱动器(以下简称器件)的电特性测试方法的基本原理和测试程序。 本文件适用于74/54系列驱动器、总线驱动器、PIN开关驱动器、达林顿驱动器、时钟驱动器、LVDS驱动器、MOSFET驱动器和差分驱动器等各种半导体工艺制造的驱 ...
标准定价: ¥
49.0
元
GB/T 42989-2023 人工影响天气术语
(现行)
中标分类:
综合
>>
基础学科
>>
A47气象学
ICS 分类:
数学、自然科学
>>
07.060地质学、气象学、水文学
发布日期:2023-09-07 实施日期:2023-09-07
简介: 本文件界定了人工影响天气的基础术语、作业装备、作业技术和安全保障的术语和定义。 本文件适用于人工影响天气活动。
标准定价: ¥
31.0
元
GB/T 43023-2023 射频声表面波(SAW)器件和体声波(BAW)器件的非线性测量指南
(现行)
中标分类:
电子元器件与信息技术
>>
电子元件
>>
L21石英晶体、压电元件
ICS 分类:
电子学
>>
31.140压电器件和介质器件
发布日期:2023-09-07 实施日期:2023-09-07
简介: 本文件规定了通信、测量仪器、雷达系统及消费电子产品等用射频(RF)声表面波(SAW)器件和体声波(BAW)器件(如滤波器、双工器等)的非线性信号的测量方法。 本文件包括非线性的基本特性及测量指南,适用于射频SAW/BAW器件测量系统的建立及相应测量 ...
标准定价: ¥
38.0
元
GB/T 43024.2-2023 压电、介电和静电振荡器的测量技术 第2部分:相位抖动测量方法
(现行)
中标分类:
电子元器件与信息技术
>>
电子元件
>>
L21石英晶体、压电元件
ICS 分类:
电子学
>>
31.140压电器件和介质器件
发布日期:2023-09-07 实施日期:2023-09-07
简介: 本文件描述了压电、介电和静电振荡器,包括使用介电谐振器的振荡器(DRO)和使用薄膜体声波谐振器(FBAR)的振荡器的相位抖动测量方法,给出了关于相位抖动测量的指南,以精确地测量均方根抖动。 本测量方法采用相位噪声测量设备或相位噪声测量系统。 注1 ...
标准定价: ¥
43.0
元
GB/T 43027-2023 高压电源变换器模块测试方法
(现行)
中标分类:
电子元器件与信息技术
>>
微电路
>>
L55微电路综合
ICS 分类:
电子学
>>
31.200集成电路、微电子学
发布日期:2023-09-07 实施日期:2023-09-07
简介: 本文件描述了具有直流/直流(DC/DC)变换功能的高压输入电源变换器模块主要电参数测试方法。 本文件适用于各类电子设备中高压输入电源变换器模块的主要电参数测试,输入高压范围为500 V以下。其他具有DC/DC变换功能的器件可参考使用。
标准定价: ¥
86.0
元
GB/T 43033-2023 分布式供能工程标识系统编码规范
(现行)
中标分类:
能源、核技术
>>
能源、核技术综合
>>
F04基础标准与通用方法
ICS 分类:
能源和热传导工程
>>
27.010能源和热传导工程综合
发布日期:2023-09-07 实施日期:2023-09-07
简介: 本文件规定了分布式供能工程标识系统编码的总体要求、标识结构、标识编码。 本文件适用于天然气分布式供能站、生物质发电站、分布式风力发电场、小型水力发电站、分布式光伏发电系统、太阳能供热站、锅炉供热站及中转系统、传输系统、存储系统、用能系统的建设和运行 ...
标准定价: ¥
104.0
元
GB/T 43034.3-2023 集成电路 脉冲抗扰度测量 第3部分:非同步瞬态注入法
(现行)
中标分类:
电子元器件与信息技术
>>
微电路
>>
L56半导体集成电路
ICS 分类:
电子学
>>
31.200集成电路、微电子学
发布日期:2023-09-07 实施日期:2023-09-07
简介: 本文件规定了集成电路(IC)对标准传导电瞬态骚扰的抗扰度测量方法。与受试器件(DUT)运行不同步的骚扰通过耦合网络施加给IC引脚。 不管电瞬态骚扰是否在IC规定的工作电压范围之内,本方法都能够得到传导电瞬态骚扰和其引起的IC性能降级之间的相互关系并 ...
标准定价: ¥
54.0
元
找到245341条相关标准,共16357页
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