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| 英文名称： |
Surface chemical analysis—Depth profiling—Non-destructivedepth profiling of nanoscale heavy metal oxide thin films onSi substrates with medium energy ion scattering |
| 标准状态： |
即将实施 |
 中标分类： |
化工>>化工综合>>G04基础标准与通用方法 |
| ICS分类： |
化工技术>>分析化学>>71.040.40化学分析 |
| 采标情况： |
ISO 23170:2022 |
| 发布部门： |
国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： |
2026-01-28 |
| 实施日期： |
2026-08-01
即将实施 距离实施日期还有104天 |
| 提出单位： |
全国表面化学分析标准化技术委员会(SAC/TC 608) |
| 归口单位： |
全国表面化学分析标准化技术委员会(SAC/TC 608) |
| 起草单位： |
中石化石油化工科学研究院有限公司、季华实验室、中国计量科学研究院、河北工程大学、国家纳米科学中心 |
| 起草人： |
邱丽美、范燕、王海、侯俊先、武春霞、忻睦迪、徐鹏 |
| 页数： |
36页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |