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| 英文名称： |
C-Si photovoltaic(PV) modules—Light and elevated temperature induced degradation(LETID) test—Detection |
 中标分类： |
电工>>电源>>K83物理电源 |
| ICS分类： |
能源和热传导工程>>27.160太阳能工程 |
| 采标情况： |
IEC TS 63342:2022 |
| 发布部门： |
国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： |
2026-01-04 |
| 实施日期： |
2026-01-04
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| 提出单位： |
中华人民共和国工业和信息化部 |
| 归口单位： |
全国太阳光伏能源系统标准化技术委员会(SAC/TC 90) |
| 主管部门： |
全国太阳光伏能源系统标准化技术委员会(SAC/TC 90) |
| 起草单位： |
常熟阿特斯阳光电力科技有限公司、中国电子技术标准化研究院、中国科学院微电子研究所、阿特斯阳光电力集团股份有限公司、隆基绿能科技股份有限公司、东方日升新能源股份有限公司、上海电气集团股份有限公司、浙江鉴衡检测技术有限公司 |
| 起草人： |
许涛、庄天奇、葛华云、黄婷、李振国、裴会川、郭素琴、冯春暖、刘亚锋、徐敏伟、陈磊 |
| 页数： |
16页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |