半导体器件 分立器件 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管可靠性试验方法 |
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| 标准编号：SJ/T 12068-2025 |
标准状态：即将实施 |
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| 标准价格：0.0 元 |
客户评分：  |
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本文件描述了碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管可靠性试验方法。
本文件适用于塑封形式碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管，其他金属氧化物半导体场效应晶体管也可参照使用。 |
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| 标准状态： |
即将实施 |
| 发布部门： |
中华人民共和国工业和信息化部 |
| 发布日期： |
2025-12-17 |
| 实施日期： |
2026-07-01
即将实施 距离实施日期还有62天 |
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