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通用集成电路卡(UICC)与终端间大容量存储接口特性测试方法 第1部分:终端
标准编号:
YD/T 3037.1-2023
标准状态:
现行
标准价格:
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标准简介
本文件规定了终端上通用集成电路卡(UICC)与终端间大容量存储接口特性的测试方法,主要包括:电气特性、初始通信协议的建立、性能测试和功能测试。
本文件适用于支持大容量存储接口的终端接口的研发和生产。
替代情况:
替代
YD/T 3037.1-2016
发布部门:
中华人民共和国工业和信息化部
发布日期:
2023-12-20
实施日期:
2024-04-01
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