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| 英文名称： |
Nanotechnologies—Thickness measurement of graphene oxide—Atomic Force Microscopy (AFM) |
 中标分类： |
综合>>基础学科>>A40基础学科综合 |
| ICS分类： |
计量学和测量、物理现象>>17.180光学和光学测量 |
| 发布部门： |
国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： |
2021-05-21 |
| 实施日期： |
2021-12-01
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| 提出单位： |
中国科学院 |
| 归口单位： |
全国纳米技术标准化技术委员会纳米材料分技术委员会(SAC/TC 279/SC 1) |
| 起草单位： |
江南石墨烯研究院、中国计量科学研究院、常州国成新材料科技有限公司、哈尔滨万鑫石墨谷科技有限公司、清华大学、常州市标准计量技术情报研究所、泰州巨纳新能源有限公司、冶金工业信息标准研究院、合肥国轩高科动力能源有限公司等 |
| 起草人： |
董国材、任玲玲、张小敏、卜天佳、梁枫、袁国辉、侯慧宁、姚雅萱、王立莉、杨宇华、梁铮、喻晓筠、颜国平、王勤生、杨勇强、李晓俊、杨续来 |
| 页数： |
24页【彩图】 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 出版日期： |
2021-05-01 |