|
| 英文名称： |
Reliability growth—Statistical test and estimation methods |
 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>电子元器件与信息技术综合>>L05可靠性和可维护性 |
| ICS分类： |
03.120.01;03.120.30 |
| 采标情况： |
IEC 61164:2004 IDT |
| 发布部门： |
国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： |
2021-03-09 |
| 实施日期： |
2021-10-01
|
| 提出单位： |
中华人民共和国工业和信息化部 |
| 归口单位： |
全国电工电子产品可靠性与维修性标准化技术委员会(SAC/TC 24) |
| 起草单位： |
工业和信息化部电子第五研究所、北京航空工程技术研究中心 |
| 起草人： |
李锴、丁小健、潘广泽、胡湘洪、梅文华、黄创绵、陈静、张洪彬、佘阳、李小兵、朱嘉伟、沈峥嵘、唐庆云 |
| 页数： |
40页【彩图】 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 出版日期： |
2021-03-01 |