光电耦合器件低频噪声参数测试方法 |
 |
| 标准编号：SJ/T 11766-2020 |
标准状态：现行 |
|
| 标准价格：0.0 元 |
客户评分：  |
|
|
立即购买工即可享受本标准状态变更提醒服务！ |
|
|
|
|
|
|
本标准规定了光电耦合器件（以下简称光耦）1Hz～300kHz频率范围内噪声参数测试方法及要求。 |
|
|
|
| 发布部门： |
中华人民共和国工业和信息化部 |
| 发布日期： |
2020-12-09 |
| 实施日期： |
2021-04-01
|
|
|
|
|
| |
|
客服中心 |
| 有问题？找在线客服 |
 |
|
|
|
|
温馨提示：标准更新替换较快，请注意您购买的标准时效性。 |
|
|
|
|
| 必备软件下载 |
| Adobe Acrobat Reader 是一个查看、
阅读和打印PDF文件的最佳工具，通
过它可以查阅本站的标准文档 |
 |
|
|
|