硅基薄膜光伏组件光致衰减测试方法 |
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| 标准编号：T/CSPSTC 25-2019 |
标准状态：现行 |
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| 标准价格：14.0 元 |
客户评分：  |
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| 英文名称： |
Test method for thin-film amorphous silicon based photovoltaic (PV) modules Light Induced Degration (LID) |
 ICS分类： |
能源和热传导工程>>27.160太阳能工程 |
| 发布日期： |
2019-08-28 |
| 实施日期： |
2019-11-15
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| 页数： |
8页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
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