微电子封装的数字信号传输特性测试方法 |
|
标准编号:SJ/T 11704-2018 |
标准状态:现行 |
|
标准价格:0.0 元 |
客户评分: |
|
立即购买工即可享受本标准状态变更提醒服务! |
|
|
|
|
|
本标准规定了高频数字微电子封装中传输线的特性阻抗、传输延迟时间、负载电容、负载电感、直流串联电阻的测试方法。
本标准适用于高频数字微电子封装。 |
|
|
|
发布部门: |
中华人民共和国工业和信息化部 |
发布日期: |
2018-02-09 |
实施日期: |
2018-04-01
|
|
|
|
|
|
|
客服中心 |
有问题?找在线客服 |
|
|
|
|
温馨提示:标准更新替换较快,请注意您购买的标准时效性。 |
|
|
|
|
必备软件下载 |
Adobe Acrobat Reader 是一个查看、
阅读和打印PDF文件的最佳工具,通
过它可以查阅本站的标准文档 |
|
|
|
|