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| 英文名称： |
Nanotechnologies—Electron microscopy imaging of noble metal nanoparticles—High angle annular dark field imaging method |
 中标分类： |
仪器、仪表>>光学仪器>>N33电子光学与其他物理光学仪器 |
| ICS分类： |
17.180.01;37.020 |
| 发布部门： |
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： |
2017-11-01 |
| 实施日期： |
2018-05-01
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| 提出单位： |
中国科学院 |
| 归口单位： |
全国纳米技术标准化技术委员会(SAC/TC 279) |
| 起草单位： |
国家纳米科学中心、北京粉体技术协会 |
| 起草人： |
齐笑迎、常怀秋、朱晓阳、贺蒙、高原 |
| 页数： |
16页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |