电子设备用固定电容器 第17-1部分：空白详细规范 金属化聚丙烯膜介质交流和脉冲固定电容器评定水平E和EZ |
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| 标准编号：GB/T 14580-2013 |
标准状态：现行 |
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| 标准价格：38.0 元 |
客户评分：  |
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空白详细规范是分规范的一种补充性文件,它包括对详细规范的格式、编排和最少内容的要求。不遵守这些要求的详细规范,认为是不符合电子元件质量评定体系要求的规范。在制定详细规范时,应考虑分规范1.4的内容。 |
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| 英文名称： |
Fixed capacitors for use in electronic equipment—Part 17-1:Blank detail specification—Fixed metallized polypropylene film dielectric a.c. and pulse capacitors—Assessment level E and EZ |
 替代情况： |
替代GB/T 14580-1993 |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>电子元件>>L11电容器 |
| ICS分类： |
电子学>>电容器>>31.060.30纸介电容器和塑料膜电容器 |
| 发布部门： |
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： |
2013-12-31 |
| 实施日期： |
2014-08-15
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| 提出单位： |
中华人民共和国工业和信息化部 |
| 归口单位： |
全国电子设备阻容元件标准化技术委员会(SAC/TC 165) |
| 主管部门： |
全国电子设备阻容元件标准化技术委员会(SAC/TC 165) |
| 起草单位： |
成都宏明电子股份有限公司 |
| 起草人： |
廖煜、王倩倩 |
| 页数： |
20页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 出版日期： |
2014-08-15 |
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《电子设备用固定电容器》系列国家标准分为如下若干部分:
———第1部分:总规范(GB/T2693—2001/IEC60384-1:1999);
———第2部分:分规范 金属化聚乙烯对苯二甲酸酯膜介质直流固定电容器(GB/T7332—2011/IEC60384-2:2005);
———第2-1部分:空白详细规范 金属化聚乙烯对苯二甲酸酯膜介质直流固定电容器 评定水平E和EZ(GB/T7333—2012/IEC60384-2-1:2005);
———第3部分:分规范 表面安装MnO2 固体电解质钽固定电容器(IEC60384-3:2007);
———第3-1部分:空白详细规范 表面安装MnO2 固体电解质钽固定电容器 评定水平EZ(IEC60384-3-1:2007);
———第4部分:分规范 固体和非固体电解质铝电解电容器(GB/T5993—2003/IEC60384-4:1998,第1号修改单:2000);
———第4-1部分:空白详细规范 非固体电解质铝电解电容器 评定水平EZ(GB/T5994—2003/IEC60384-4:2000);
———第4-2部分:空白详细规范 固体(MnO2)电解质的铝电解固定电容器 评定水平EZ(IEC60384-4-2:2007);
———第6部分:分规范 金属化聚碳酸酯膜介质直流固定电容器(IEC60384-6:2005);
———第7部分:分规范 金属箔式聚苯乙烯膜介质直流固定电容器(GB/T10185—2012);
———第7-1部分:空白详细规范 金属箔式聚苯乙烯膜介质直流固定电容器 评定水平E(GB/T10186—2012);
———第8部分:分规范 1类瓷介固定电容器(GB/T5966—2011/IEC60384-8:2005);
———第8-1部分:空白详细规范 1 类瓷介固定电容器 评定水平EZ(GB/T5967—2011/IEC60384-8-1:2005);
———第9部分:分规范 2类瓷介固定电容器(GB/T5968—2011/IEC60384-9:2005);
———第9-1部分:空白详细规范 2 类瓷介固定电容器 评定水平EZ(GB/T5969—2012/IEC60384-9-1:2005);
———第11 部分:分规范 金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流固定电容器(IEC60384-11:2008);
———第11-1部分:空白详细规范 金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流固定电容器(IEC60384-11-1:2008);
———第13部分:分规范 金属箔式聚丙烯膜介质直流固定电容器(IEC60384-13:2011);
———第13-1部分:空白详细规范 金属箔式聚丙烯膜介质直流固定电容器 评定水平E 和EZ(GB/T10189—2013/IEC60384-13-1:2006);
———第14部分:分规范 抑制电源电磁干扰用固定电容器(GB/T14472—1998/IEC60384-14:2005);
———第14-1部分:空白详细规范 抑制电源电磁干扰用固定电容器 评定水平D(GB/T14473—1998/IEC60384-14-1:2005);
———第15部分:分规范 非固体或固体电解质钽固定电容器(GB/T7213—2003/IEC60384-15:1982,第1号修改单:1987,第2号修改单:1992);
———第15-1部分:空白详细规范 固体电解质钽箔固定电容器 评定水平E(GB/T12794—1991/IEC60384-15-1:1984);
———第15-2部分:空白详细规范 固体电解质烧结钽固定电容器 评定水平E(GB/T12795—1991/IEC60384-15-2:1984);
———第15-3部分:空白详细规范 固体电解质和多孔阳极钽固定电容器 评定水平E(GB/T7214—2003/IEC60384-15-3:1984);
———第16 部分:分规范 金属化聚丙烯薄膜介质直流固定电容器(GB/T 10190—2012/IEC60384-16:2005);
———第16-1部分:空白详细规范 金属化聚丙烯薄膜介质直流固定电容器 评定水平E 和EZ(GB/T10191—2011/IEC60384-16-1:2005);
———第17部分:分规范 金属化聚丙烯薄膜介质交流和脉冲固定电容器(GB/T14579—2013/IEC60384-17:2005);
———第17-1部分:空白详细规范 金属化聚丙烯薄膜介质交流和脉冲固定电容器 评定水平E和EZ(GB/T14580—2013/IEC60384-17-1:2005);
———第18部分:分规范 表面安装固体和非固体电解质铝电解固定电容器(GB/T17206—1998/IEC60384-18:1993,第1号修改单:1998);
———第18-1部分:空白详细规范 表面安装固体(MnO2)电解质铝固定电容器 评定水平EZ(GB/T17207—2012/IEC60384-18-1:2007);
———第18-2部分:空白详细规范 非固体电解质片式铝电解质固定电容器 评定水平E(GB/T17208—1998/IEC60384-18-2:1993);
———第19 部分:分规范 表面安装金属化聚乙烯对苯二甲酸酯膜介质直流固定电容器(GB/T15448—2013/IEC60384-19:2006);
———第19-1部分:空白详细规范 表面安装金属化聚乙烯对苯二甲酸酯膜介质直流固定电容器评定水平EZ(GB/T16467—2013/IEC60384-19-1:2005);
———第21部分:分规范 表面安装1类多层瓷介固定电容器(GB/T21041—2007/IEC60384-21:2004);
———第21-1部分:空白详细规范 表面安装1 类多层瓷介固定电容器(GB/T21038—2007/IEC60384-21-1:2004);
———第22部分:分规范 表面安装2类多层瓷介固定电容器(GB/T21042—2007/IEC60384-22:2004);
———第22-1部分:空白详细规范 表面安装2 类多层瓷介固定电容器(GB/T21040—2007/IEC60384-22-1:2004)。
本部分为《电子设备用固定电容器》的第17-1部分。
本部分按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。
本部分代替GB/T14580—1993《电子设备用固定电容器 第17部分:空白详细规范 金属化聚丙
烯膜介质交流和脉冲固定电容器 评定水平E》。本部分与GB/T14580—1993相比,主要变化如下:
———增加了评定水平EZ的要求;
———增加了A0分组检验;
———低气压试验气压由8.5kPa改为8kPa;
———A1分组IL由S-4改为S-3;
———A2分组IL由Ⅱ改为S-3;
———4.2.3补充规定了损耗角正切的测试频率;
———规范名称由“第17部分”改为“第17-1部分”。
本部分使用翻译法等同采用IEC60384-17-1:2005《电子设备用固定电容器 第17-1部分:空白详细规范 金属化聚丙烯膜介质交流和脉冲固定电容器评定水平E和EZ》。
与本部分中规范性引用的国际文件有一致性对应关系的我国文件如下:
———GB/T2693—2001 电子设备用固定电容器 第1部分:总规范(idtIEC60384-1:1999);
———GB/T14579—2013 电子设备用固定电容器:第17部分:分规范 金属化聚丙烯薄膜介质交流和脉冲固定电容器(IEC60384-17:2005,IDT)。本部分进行了下列编辑性修改:
———IEC第2页注2改为注1。
本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。
本部分由全国电子设备阻容元件标准化技术委员会(SAC/TC165)归口。
本部分起草单位:成都宏明电子股份有限公司。
本部分主要起草人:廖煜、王倩倩。
本部分所代替标准的历次版本发布情况为:
———GB/T14580—1993。 |
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