微束分析 电子背散射衍射分析方法通则 |
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| 标准编号：GB/T 19501-2013 |
标准状态：现行 |
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| 标准价格：31.0 元 |
客户评分：  |
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本标准规定了电子背散射衍射分析方法。
本标准适用于安装了电子背散射衍射附件的扫描电镜和电子探针进行物相识别、晶体取向、显微织构以及晶界特性等方面的分析。 |
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| 英文名称： |
Microbeam analysis—General guide for electron backscatter diffraction analysis |
 替代情况： |
替代GB/T 19501-2004 |
| 中标分类： |
化工>>化工综合>>G04基础标准与通用方法 |
| ICS分类： |
化工技术>>分析化学>>71.040.50物理化学分析方 |
| 发布部门： |
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： |
2013-07-19 |
| 实施日期： |
2014-03-01
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| 提出单位： |
全国微束分析标准化技术委员会( SAC/TC 38) |
| 归口单位： |
全国微束分析标准化技术委员会( SAC/TC 38) |
| 主管部门： |
全国微束分析标准化技术委员会( SAC/TC 38) |
| 起草单位： |
宝钢集团中央研究院 |
| 起草人： |
姚雷、田青超、郑芳、顾佳卿、陈家光 |
| 页数： |
16页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 出版日期： |
2014-03-01 |
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本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。
本标准代替GB/T19501—2004《电子背散射衍射分析方法通则》。
本标准与GB/T19501—2004相比,主要内容变化如下:
———增加了规范性引用文件(见第2章);
———增加或修改了部分术语,删除晶粒夹角(见第3章);
———增加了分析步骤内容(见第4章);
———增加分析结果发布补充内容(见第5章);
———增加了附录A(资料性附录);
———修改了测量条件(见第4章);
———删除了原标准中试样的制备;
———删除了原标准中分析步骤;
———删除了原标准中测量误差。
本标准由全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC38)提出并归口。
本标准起草单位:宝钢集团中央研究院。
本标准主要起草人:姚雷、田青超、郑芳、顾佳卿、陈家光。
本标准所代替标准的历次版本发布情况为:
———GB/T19501—2004。 |
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下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T15074 电子探针定量分析方法通则
GB/T27025 检测和校准实验室能力的通用要求
ISO24173 微束分析 电子背散射衍射取向测定方法通则(Microbeamanalysis—Guidelinesfor orientationmeasurementusingelectronbackscatterdiffraction) |
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