无损检测仪器 工业用X射线CT装置性能测试方法 |
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| 标准编号：GB/T 26593-2011 |
标准状态：现行 |
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| 标准价格：38.0 元 |
客户评分：  |
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本标准规定了工业用X射线CT装置(以下简称CT装置)性能测试的术语、定义、缩略语以及空间分辨力、密度分辨率、定位光标准确度、层厚准确度、CT值标准差等试验方法。
本标准适用于工业CT装置的出厂检验和型式检验。 |
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| 英文名称： |
Non-destructive testing instruments—Properties test method for performance of industrial X-ray computed tomography(CT) equipment |
 中标分类： |
仪器、仪表>>试验机与无损探伤仪器>>N78X射线、磁粉、荧光及其他探伤仪器 |
| ICS分类： |
试验>>19.100无损检测 |
| 发布部门： |
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： |
2011-06-16 |
| 实施日期： |
2011-11-01
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| 首发日期： |
2011-06-16 |
| 提出单位： |
中国机械工业联合会 |
| 归口单位： |
全国试验机标准化技术委员会(SAC/TC 122) |
| 主管部门： |
全国试验机标准化技术委员会(SAC/TC 122) |
| 起草单位： |
辽宁仪表研究所、中国工程物理研究院应用电子学研究所、深圳市华测检测技术股份有限公司等 |
| 起草人： |
武太峰、于志军、陈浩、郭冰、邵德峰、董殿刚、张宏 |
| 页数： |
20页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 出版日期： |
2011-11-01 |
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本标准附录A、附录C、附录D为规范性附录。
本标准附录B为资料性附录。
本标准由中国机械工业联合会提出。
本标准由全国试验机标准化技术委员会(SAC/TC122)归口。
本标准负责起草单位:辽宁仪表研究所、中国工程物理研究院应用电子学研究所、深圳市华测检测技术股份有限公司。
本标准参加起草单位:丹东华日理学电气有限公司、丹东市无损检测设备有限公司、丹东市万全无损检测仪器厂。
本标准主要起草人:武太峰、于志军、陈浩、郭冰、邵德峰、董殿刚、张宏。 |
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前言 Ⅲ
1 范围 1
2 规范性引用文件 1
3 术语和定义及缩略语 1
4 试验方法 2
4.1 空间分辨力测试 2
4.2 密度分辨率测试 3
4.3 定位光标准确度测定 4
4.4 层厚准确度测定 4
4.5 CT值标准差测定 5
附录A (规范性附录) 圆盘标准试件 6
附录B(资料性附录) 圆盘法测试的算法流程 7
附录C (规范性附录) 圆孔型测试卡法测试空间分辨率 10
附录D (规范性附录) 空气间隙法测试密度分辨率 12 |
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下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。
GB/T12604.2 无损检测 术语 射线照相检测 |
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