下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。
GB/T4793.1—2007 测量、控制和实验室用电气设备的安全要求 第1 部分:通用要求(IEC61010:2001,IDT)
GB/T13384 机电产品包装通用技术条件
GB/T17626.2 电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验(GB/T17626.2—2006,IEC61000-4-2:2001,IDT)
GB/T17626.3 电磁兼容 试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验(GB/T17626.3—2006,IEC61000-4-3:2002,IDT)
GB/T17626.4 电磁兼容 试验和测量技术 电快速瞬变脉冲群抗扰度试验(GB/T17626.4—2008,IEC61000-4-4:2004,IDT)
GB/T17626.5 电磁兼容 试验和测量技术 浪涌(冲击)抗扰度试验(GB/T17626.5—2008,IEC61000-4-5:2005,IDT)
GB/T17626.6 电磁兼容 试验和测量技术 射频场感应的传导骚扰抗扰度(GB/T17626.6—2008,IEC61000-4-6:2006,IDT)
GB/T17626.11 电磁兼容 试验和测量技术 电压暂降、短时中断和电压变化抗扰度试验(GB/T17626.11—2008,IEC61000-4-11:2004,IDT)
GB/T18268.1 测量、控制和实验室用的电设备 电磁兼容性要求 第1 部分:通用要求(GB/T18268.1—2000,IEC61326-1:2005,IDT)
GB/T18271.1—2000 过程测量和控制装置 通用性能评定方法和程序 第1 部分:总则(IEC61298-1:1995,IDT)
GB/T18271.2—2000 过程测量和控制装置 通用性能评定方法和程序 第2部分:参比条件下的试验(IEC61298-2:1995,IDT)
GB/T18271.3—2000 过程测量和控制装置 通用性能评定方法和程序 第3部分:影响量影响的试验(IEC61298-3:1998,IDT)
GB/T22162 盘装和架装工业过程测量和控制仪表的盘面和开孔尺寸(GB/T22162—2008,IEC60668:1980,IDT)
GB/T25480 仪器仪表运输、贮存基本环境条件及试验方法 |
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